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Reges Interesse am 10. ATE-Technologietag in Sindelfingen.
Reges Interesse am 10. ATE-Technologietag in Sindelfingen.
Reges Interesse am 10. ATE-Technologietag in Sindelfingen.
Reges Interesse am 10. ATE-Technologietag in Sindelfingen.
Christian Grobmüller, Area Sales Manager, National Instruments, eröffnet die Veranstaltung.
Michael Konrad, Geschäftsführer, Konrad Technologie, freut sich auf einen erfolgreichen 10. Technologietag.
Den Keynote-Vortrag „Automated Test Outlok” hielt Luke Schreier, Senior Group Manager Automated Test bei NI.
: Applikationsbezogene Exponate auf der begleitenden Ausstellung.
Zu sehen auf der Ausstellung: Prototyp eines automatisierten Fingertester für Hf-Applikationen von MPH.
Die Podiumsdiskussion mit (v. r. n. l.) Michael Konrad, Geschäftsführer, Konrad Technologie, Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments, Markus Solbach, Head of Business Development, Noffz Computer Technology, Hilmar Beine,
"Rack und Stack hat ausgedient", Rahmann Jamal, National Instruments.
"Standardisierung wird zukünftige Entwicklungen prägen", Michael Konrad, Konrad Technologie.
„Die Software organisiert den Test“, Christian Grobmüller, National Instruments.
„Das beste aus mehreren Plattformen muss zusammengebracht werden“, Markus Solbach, Noffz Computer Technology.

Mehr denn je nimmt die Prüftechnik in der Elektronikfertigung eine Schlüsselposition ein und Testingenieure stehen bei der Erstellung von Testsystemen vor hohen Herausforderungen. Dazu gehört zuallererst die Maximierung der Testabdeckung, die durch Kombination verschiedener Testverfahren erreicht wird. Die in der Vergangenheit existierenden scharfen Abgrenzungen von spezialisierten Testsystemen je nach Testverfahren vermischen sich dabei mehr und mehr und sorgen damit für eine Bildung von Synergien. Neu entwickelte, effiziente Verfahren aus dem Halbleitertest sind auch in Funktionstestsystemen anwendbar.

Zwei parallele Vortragsreihen

Der ATE-Technologietag bot gleich in zwei parallelen Vortragsreihen zu den Themen Funktionstest, In-Circuit-Test, Boundary-Scan-Test sowie mechanischen Handling-Systemen umfangreiche Informationsmöglichkeiten. Einen speziellen Stellenwert nahmen die Themen HF-Test und Halbleitertest ein.

Ausgestellte Applikationen

In den Pausen, im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion hatte man die Möglichkeit mit Experten und Fachkollegen zu diskutieren. Eine begleitende Ausstellung von Firmen der Branche ermöglichte tieferen Einblick in realisierte Projekte und verwendete Technologien. Mit Ständen vertreten waren außer den Veranstaltern NI und Konrad-Technologies die Firmen Hölle& Hüttner, IMMS, Itac, JTAG Technologies, LHFT sowie IRS Uni Erlangen-Nürnberg, MPH GmbH, Noffz, Pematech und Router Solutions.

Automated Test Outlook

In seinem Keynote-Vortrag „Automated Test Outlok“ betonte Luke Schreier, Senior Group Manager Automated Test bei NI (luke.schreier@ni.com), dass man sich heutzutage bei jedem neuem Projekt bestimmte Fragen stellen muss.

  • Wie bringt man die richtigen Leute an einen Tisch?
  • Welche Softwaretools setzen wo an?
  • Wie bringt man Designdaten, Besonderheiten etc. des DUT mit dem ATE-Equipment zusammen, vor allem wenn die Ansprüche ständig wachsen?

PXI – mehr als nur ein Formfaktor

Statt Geräte zu stapeln – Rack and Stack – greifen immer mehr Anwender zur modularen PXI-Plattform, die ein Höchstmaß an Flexibilität erlaubt, weil die Funktionalitäten je nach Software veränderbar sind – so Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments. Gegenüber konventionellen Rack-Systemen sind Lösungen mit PXI nicht nur wesentlich kleiner, leichter und sparsamer im Verbrauch, sonder auch schneller, leistungsfähiger und kostengünstiger.

Zurzeit gibt es rund 70 Firmen, die zu den PXI Systems Alliance Members gehören. Vor kurzem ist auch Agilent beigetreten. NI zählt mittlerweile rund 100.000 auf PXI basierende Entwicklungen mit rund 600.000 Modulen aus dem eigenen Hause. Diese Anzahl dürfte bis 2014 auf rund 300.000 Projekte ansteigen.

Anforderungen im Bereich Medizinelektronik

Über „Requirements for Manufacturing and Test Engineering in a Medical Systems Business“ referierte Otto Schuster, Director Industrial Operations, Philips Medizin Systeme Böblingen GmbH. Ein Testsystem müsse nicht nur eine sehr breite Produktpalette testen können, sondern auch durchgängig die Fähigkeit bewahren, voll Dokumentationsfähigkeit zu realisieren. Deshalb wird bei Philips in Böblingen auch im Zuge jedes neuen geplanten Produktes über die Anforderungen an den Fertigungsprozess und die Testlösung unter diesen Aspekten unter die Lupe genommen.

Universelle Prüfplattform

Zum Thema „Abex – eine universelle Prüfplattform für den Funktionstest, In-Circuit Test und Halbleitertest“ berichtete Matthias Vogel, Konrad GmbH (m.vogel@konrad-technologies.de). Abex steht für Analog Bus Extension for PXI – eine Art „Vorbau“ – und ist eine offene Systemerweiterung, die z. B. über eine Backplane zur kabellosen Signalführung vom Pin bis zum Instrument verfügt.

Standardisierter Funktionstest

Die „Standardisierung von Funktionstestern im internationalen Fertigungsverbund“ war das Thema von Uwe Hunold, Miele und Cie., Werk Electronic (uwe.hunold@miele.de). Dabei geht es um die Vereinfachung der Softwareerstellung, die automatisierte Dokumentation von Prüfschritten, vereinfachte Inbetriebnahme und die Wiederverwendung von SW-Modulen durch Bibliotheken.

Regeln systematisch einhalten

Über die „Erfüllung von Compliance-Anforderungen mit Traceability“ berichtete Andreas Rudl, Vice President Sales, Itac Software AG. Er definiert Compliance mit der „Einhaltung von Gesetzen und Richtlinien“ bzw. mit „Regelkonformität“. Die systematische Einhaltung der Regelkonformität rechne sich alle mal. Frühindikation von vereinzelt auftretenden Feldausfällen können besser detektiert, Messdaten eines Unikats mit den Messdaten anderer Unikate verglichen und auf Auffälligkeiten hin untersucht werden. Dazu gehört auch die Sicherstellung der korrekten Hard- und Software-Kombinationsstände, der korrekten Prüfabläufe und der Verbauverifikation.

Allround-Testzelle

Mit der „Integration von unterschiedlichen Technologien in eine Testzelle“ stellte Marcus Bayerlein, Pematech AG (marcus.bayerlein@pematech.de) Lösungen mit der Test Cell Line, TCL, von Pematech vor, wie z. B. die Integration von Flashmodulen über einen Anbau an der Rückwand oder die Integration von Standard-Wechselsätzen.

Weitere Vortragsthemen

Das „Durchführen von Teststrategie- und DFT-Analysen mit der Software Testway“ schilderte Darko Sabljo, Siemens AG, I IS IN OC OL A TST, Karlsruhe (darko.sabljo@siemens.com).

Über die „Entwicklung und Charakterisierung eines SAE-J2716-Sent-Transmitters für automotive Smart-Sensor-Applikationen“ berichtete Klaus Förster, IMMS GmbH (Klaus.foerster@imms.de).

„STDF – der Standard für Datenspeicherung im ATE-Bereich“ war Theam von Dr. Alfred Strey, Hölle & Hüttner AG, Tübingen (marketing@h-net.com).

„DFT als integrierter Bestandteil eines Design-to-Manufacture Flow“ war Thema von Kevin Decker-Weiss, Router Solutions GmbH (Kevin.decker@camcad.de).

Über den „PXI-Semiconductor-Test im Bezug auf die ITRS Roadmap 2010 im Halbleiter-ATE-Bereich“ referierte Joachim Gläß, Konrad GmbH (j.glaess@konrad-technologies.de).

Christoph Landmann, Regional Product Engineer – Automated Test, National Instruments Central Europe, hatte zum Thema „IP to the Pin! FPGA-basierte Datenerfassung mit NI Flex RIO“

„Synthetischer Netzwerkanalysator: Attraktive Messplatzerweiterung für bestehende RF-PXI-Systeme“ war das Theam von Marcus Schramm, Universität Erlangen Nürnberg – LHFT (marcus@lhft.eei.uni-erlangen.de).

Podiumsdiskussion: Quo vadis ATE?

Angesichts der bevorstehenden Aufgaben, wie z. B. der Test von Power-Devices für die Elektromobilität, scheint vor allem eines wichtig zu werden: Ressourcen bündeln und enger zusammenrücken. Zumindest die Statements der Teilnehmer der abschließenden Podiumsdiskussion, moderiert von productronic-Chefredakteur Hilmar Beine, ließen da keine Zweifel.

Michael Konrad, Geschäftsführer, Konrad Technologie, Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments, Markus Solbach, Head of Business Development, Noffz Computer Technology und Christian Grobmüller, Area Sales Manager, National Instruments waren sich auch darin einig: Die Zeit der Rack and Stack-Lösungen ist vorbei und PXI mit einem überwältigenden Angebot von etlichen Herstellern weltweit klar auf dem Vormarsch. USchließlich sind erst vor kurzem selbst große Messgerätehersteller endlich zur Alliance dazu gestoßen.

Die Globalisierung bringt aber auch die Anforderungen an eine wie auch immer zu definierende Standardisierung in den Fokus der Bemühungen aller Beteiligten. Die Hersteller sind an diesem Punkt gefragt, ihre Anwender zu beraten, Konzepte zu entwickeln und vorzuschlagen und ihre Erfahrungen mit bisherigen Projekten in die Lösung für neue Anforderungen einfließen zu lassen. Auf der anderen Seite werden die Hersteller mit Blick auf den jeweiligen Anwender jeder für sich nicht beliebig weit kommen, ohne verstärkt Partnerschaften bzw. Kooperationen einzugehen, punktuell oder auch strategisch. Wenn man den Äußerungen der ATE-Technologietag-Gestalter glauben darf, wird das heute und in Zukunft mit Sicherheit auf immer breiterer Ebene auch praktiziert werden.