all electronics | Termine
Intensiv-Workshop „Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik“
26.01.2010 - 01.12.2010 in München, Hamburg, Zürich, Berlin, Nürnberg, Frankfurt, Furtwangen, Dresden, Wien, Dortmund, Stuttgar
In Anbetracht der bisherigen, großen Erfolge der Workshops "Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik" setzt Tecs Prüftechnik GmbH diese Seminare auch in 2010 fort. lesen
IPC-A-610-Schulungen 2010
09.02.2010 - 25.11.2010 in Balve
Balver Zinn offeriert interessierten Fertigungsfachleuten IPC-A-610-Schulungen 2010. Während des Seminars lernen die Teilnehmer den Umgang mit der IPC-A-610 sowie Kriterien für die optische Inspektion elektronischer Baugruppen kennen. lesen
Technologie Roadshow
31.08.2010 - 30.09.2010 in Diverse
Informationsveranstaltungen zum Thema elektronische Baugruppen lesen
Seminarreihe Funktionale Sicherheit (SIL) in der Prozessindustrie
06.09.2010 - 13.10.2010 in Hamburg, Berlin, Leipzig, Hannover, Duisburg, München, Darmstadt, Karlsruhe
Kostenloses Praxisseminar: Virtuelle Instrumente für Mess- und Prüfsysteme
08.09.2010 - 05.11.2010 in CH-Ennetbaden, A-Wien, A-Graz, A-Linz, D-Göttingen, D-Braunschweig, D-Jena, D-Köln, D-Berlin, D-Brem
Motek 2010
13.09.2010 - 16.09.2010 in Stuttgart
4. Bondexpo plus 4. Microsys zeitgleich mit 29. Motek vom 13. bis 16. September 2010
13.09.2010 - 16.09.2010 in Stuttgart
Technologie-Roadshow: JTAG/Boundary Scan vor Ort
13.09.2010 - 01.10.2010 in Berlin, Hamburg, Hannover, Düsseldorf, Jena, Franfkurt/M., Freiburg, Stuttgart, München, Nürnberg
Unter der Bezeichnung „Boundary Scan on Tour“ führt Göpel Electronic zum 4. Mal vom 13. 9. bis 1.10.2010 eine deutschlandweite Roadshow zur JTAG/Boundary Scan-Technologie gemäß Standard IEEE 1149.x durch. lesen
Seminar "Virtuelle Instrumente für Mess- und Prüfsysteme der nächsten Generation"
14.09.2010 - 29.09.2010 in Göttingen, Braunschweig, Bremen, Hamburg, Berlin, Dresden, Jena, Dortmund, Köln
18. FED-Konferenz
16.09.2010 - 18.09.2010 in Fellbach
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