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Keysight Technologies

Damit eignet sich das integrierte AFM-System (Atomic Force Microscope) für anspruchsvolle Anwendungen in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Science, Polymerwissenschaft und für die Charakterisierung elektrischer Materialeigen­schaften. Die hohen Scan-Raten sind der als Systemoption verfügbaren neuen Quick-Scan-Technologie zu verdanken, die durch das hochleistungsfähige Imaging- und Analysesoftwarepaket Nano-Navigator gesteuert wird. Außerdem bietet diese Software eine Auto-Drive-Funktion, die sämtliche Parameter automatisch schnell konfiguriert. Zu den Besonderheiten des 9500 AFM zählen u.a. ein großer Closed-loop-AFM-Scanner mit atomarer Auflösung und die außergewöhnlich genaue Kontrolle von Umgebungsparametern. Wissenschaftler können die elektrischen Eigenschaften von Nanomaterialien in einem einzigen Durchgang charakterisieren. Eine breitbandige digitale Elektronik auf FPGA-Basis gewährleistet auch bei hohen Scan-Raten eine genaue Kontrolle der Spitze und macht externe Steuereinheiten überflüssig.

Productronica 2015: Halle A1, Stand 576