Die Messung von ICs nach der DPI-Methode (Direct RF-Power Injection) gibt Aufschluss über ihr Verhalten gegenüber elektromagnetischer Einstahlung. Die IC herstellende und anwendende Industrie benötigt umfangreiches Wissen über dieses Störverhalten, um die Funktion eines Schaltkreises oder der Elektronik unter HF-Störeinfluss sicherzustellen. Die Messungen nach der DPI-Methode sind jedoch extrem zeitaufwändig. Automatisch arbeitende und flexibel anpassbare Messplätze sind erforderlich und werden in Deutsch auf 6 Seiten beschrieben. 411ei0808