Seica präsentiert die überarbeitete ATE-Flying-Probe-Plattform Pilot und eine neue Generation von In-Circuit- und Funktionstestsystemen aus der Compact-Linie. Die Pilot-Modelle reichen von vier bis acht Testnadeln, die gleichzeitig auf eine oder auf beide Seiten der Baugruppe zugreifen, positioniert in einer horizontalen oder vertikalen Architektur. Dem Geist der konstanten Innovation folgend, können die Pilot-Tester mit den neuesten und originalen Messtechniken ausgestattet werden, wie Flyscan, Thermalscan, Quicktest, Power Probes, Parallel Test, alle anzusehen im Pilot-V8-Testsystem am Messestand.