Der Easy-Test-Handler ETH von IPTE

Der Easy-Test-Handler ETH von IPTEIPTE

Ausgestattet ist der Handler mit einem Transportband, das sich zwischen dem oberen festen und unterem beweglichen Adapter befindet und sich beim Kontaktiervorgang mit Prüfling und Adapterunterteil zusammen, mit einer maximalen Anpresskraft von 750 N, nach oben bewegt. Der Antrieb für die Kontaktierbewegung ist pneumatisch. Der ETH eignet sich für den Einsatz mit Einzel-Leiterplatten, Leiterplatten-Nutzen oder entsprechenden Werkstückträgern für Leiterplatten. Es können ein- oder beidseitige Kontaktierungen realisiert werden. Die Kontaktierungsadapter lassen sich einfach und schnell tauschen. Optional ist es möglich, den Testhandler mit einem Bypass-Bandsegment auszurüsten, um mehrere Testhandler parallel zu betreiben. Dies erlaubt einen kontinuierlichen Produktionsverlauf, sodass der laufende Testvorgang den Produktionsfluss nicht blockiert. Der Bypass lässt sich zudem zur Optimierung der Taktzeit einsetzen.

Der IPTE Easy-Test-Handler ETH ist eine wirtschaftliche Testlösung mit geringem Platzbedarf. Er lässt sich einfach in ein automatisiertes SMEMA-kompatibles Testumfeld integrieren und bietet ausreichend Platz für 19 Zoll großes Test-Equipment (10 HE). Das integrierte LC-Touch-Display erlaubt den Zugriff auf alle erforderlichen Parameter für die Programmierung der Testabläufe.

Großfamilie der Test-Handler

Die Test-Handler wurden mit dem Schwerpunkt entwickelt, die automatische Prüfung von Leiterplatten oder Baugruppen in einer In-Line Lösung oder als Stand-alone-Maschine zu erleichtern. Alle Systeme warten mit einem minimalen Platzbedarf und einem schlanken Design auf. Zudem basiert jeder Handler auf einem Stahlschweißrahmen, ausgestattet mit eigener Steuerung, Diagnose-Tools und einer benutzerfreundlichen Bedienoberfläche. Da alle Module SMEMA kompatibel sind, handelt es sich bei den Systemen um eine Plug-and-Play-Lösung, die sich dadurch an kundenspezifische Anforderungen anpassen lässt. Der Wechsel von produktspezifischen Kontaktierungen erfolgt innerhalb von Sekunden, um die Stillstandzeiten in der Fertigung zu minimieren, verspricht IPTE.

Insgesamt stehen acht verschiedene Test-Handler-Plattformen zur Verfügung. Der Multi-Test-Handler etwa erlaubt den Parallelbetrieb mit vier oder acht Prüflingsadaptern. Diese Funktion ist besonders in Linien mit schnellen Taktzeiten von Vorteil, da Test oder Programmierung vielfach eine längere Zeit in Anspruch nehmen, als die Taktzeit erlauben würde. Zudem können die Prüflingsadapter auch für unterschiedliche Produkte ausgelegt sein, was bei gemischter Produktion Umrüstzeit spart. Alternativ kann der Multi-Test-Handler unterschiedliche Prüfaufnahmen für verschiedene Produktvarianten vorhalten und somit die Rüstzeiten minimieren respektive eine gemischte Variantenfertigung ermöglichen.

Der Multi-Testhandler lässt sich in vorhandenes Test-Equipment integrieren. Die Testhandler von IPTE sind für Testsysteme von Teradyne erhältlich. Darüber hinaus ist eine universell einsetzbare Variante in 19-Zoll-Ausführung lieferbar. Der größte Vorteil der Testhandler-Familie ist das modulare und multifunktionale Konzept und die mögliche Nutzung der bestehenden Testadapter. Egal, ob Einzel- oder Doppelband, ein oder zwei Lifts, einzelne oder doppelte Transportsegmente, die Testhandler lassen sich für alle Varianten einsetzen. Dabei sind auch beliebige Kombinationen in der Anzahl von Bändern, Lifts und Transportsegmenten möglich. Mit einer zweiten Transportlinie lassen sich zudem Bypass-Lösungen realisieren.