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Das Gerät basiert auf der Röntgenfluoreszenz-Analyse, verfügt über einen hochauflösenden Silizium-Drift-Detektor (SDD) und misst Beschichtungen im Nanometerbereich sowie die Elementzusammensetzung im Spurenbereich. Acht einstellbare Blenden decken alle Anwendungsanforderungen ab, der SDD bietet optimale Effizienz im vollen Energiebereich mit einer Energieauflösung bis herunter zu 140 eV. Mit einer unbegrenzten Elementauswahl und Schichtstruktur für die Schichtdicken- und Materialanalyse sorgt Maxxi 6 für eine durchgehend hohe Produktionsqualität. Die Schichtdickenanalyse erfolgt in nur drei Schritten: Platzieren der Probe in der Probenkammer, Wahl des Messpunktes, Drücken der Start-Taste. Mehrere Arten der Analyse wie die empirische Kalibrierung, die FP-basierende Berechnung oder die vorinstallierte Kalibrierung für RoHS und Edelmetalle erleichtern die Arbeit. Ein Standard-PC oder Notebook lässt sich ohne zusätzliche Hard- oder Firmware über USB an das Messgerät anschließen. Die ungewöhnlich große, geschlitzte Probenkammer mit einem Innenvolumen von 500 mm x 450 mm x 170 mm ist  auch für große Leiterplatten geeignet. Außerdem ermöglicht der programmierbare Probentisch eine automatisierte Messung und maximiert den Verfahrbereich sowie die Geschwindigkeit des Tisches.

Productronica 2015: Halle A1, Stand 330