Boundary-Scan-System JFT/Labview beim Test eines D/A-Wandlers.

Boundary-Scan-System JFT/Labview beim Test eines D/A-Wandlers. JTAG

Auf neuzeitlichen Leiterplatten mit hoher Integrations- und Bauteildichte ist ein für In-Circuit-Tester erforderlicher direkter Zugang zu Bauteilpins und Leiterbahnen kaum noch möglich. In ICs integrierte Boundary-Scan-Register ermöglichen dem Testsystem über Steuer- und Datenleitungen Zugriff auf per Kontaktierung unzugängliche Signalpfade und Schaltungsbereiche. Zur Testautomatisierung von analogen und digitalen Schaltungen bietet JTAG Technologies Boundary-Scan-Komponenten für die Integration in Testsysteme unterschiedlicher Hersteller, womit sich günstige, kleine wie auch komplexe und hochflexible automatisierte Testsysteme realisieren lassen. Die Funktionstestlösung JFT ist bereits auf unterschiedliche Plattformen wie Labview portiert und unterstützt damit kostengünstige Testplattformen. Des Weiteren besteht die JTAG-Serie JT 57xx aus kombinierten Boundary-Scan-Controllern inklusive einem Mixed-Signal-I/O-Testsystem.