Testgeräte + Prüfplätze

Continental Automotive USA hat sich für Röntgeninspektionssysteme von GÖPEL electronic entschieden.

Branchenmeldungen-3D-Röntgensysteme für Continental

Qualität von Automotive-Baugruppen sicherstellen

29.11.2016Zwei Röntgeninspektionssysteme von Göpel Electronic wurden am texanischen Produktionsstandort Seguin von Continental Automotive installiert. Dort werden hochkomplexe Baugruppen für die Automobilindustrie gefertigt. mehr...

ClimeEvent - Webseason Bedienoberfläche

Testgeräte + Prüfplätze-Die neue Ära der Umweltsimulation

ClimeEvent – Die neue Generation von Klimaprüfschränken

21.11.2016ClimeEvent, die neue Generation der Klimaprüfschränke von weisstechnik, setzt Maßstäbe in Sachen Performance, Zukunftssicherheit und Bedienbarkeit. Die neue Baureihe bietet dem Kunden exklusive Vorteile. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Die-Handling-System

Für fortschrittliche 2.5D- und 3D-Halbleiter

04.11.2016Advantest stellt mit dem Die-Handler HA1000 eine kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC-Packaging vor. Das System wurde für das Handling unterschiedlichster Bauteile entwickelt, von großen Hochleistungsserver-/GPU-Bauteilen bis hin zu kleinen SoC- und Memory-Bauteilen/-Stacks, wie HBM2. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-AOI- und LED-Inspektion

Baugruppen und LED-Module schnell geprüft

03.11.2016Das von Prüftechnik Schneider & Koch angebotene Testsystem Laservision LED wurde für die Prüfung von bestückten LED-Leiterplatten entwickelt. Dabei wird die komplette Prüfung der Leiterplatten bis zu einer Länge von bis zu 1500 mm möglich. mehr...

3D-Rekonstruktion eines QFN-Bauteils: links eine Standardaufnahme, rechts mit den seitlichen Ansichten durch 360View.

Testgeräte + Prüfplätze-3D-Rekonstruktion und Schutzlackinspektion

Ausgefeilte CCI-Prüftechnik und exakte 3D-Aufnahmen

02.11.2016Sind in der Elektronikfertigung Silikonlacke oder besonders dünne Lackschichten zu prüfen, bietet sich der Einsatz des High-Density-Moduls für das Inspektionssystem S3088 CCI von Viscom an. Bis zu acht geneigte Kameras prüfen die Qualität der Lackschicht auch an den Seiten der Bauteile. mehr...

JTAG ist eine sehr gute Möglichkeit, den Testzugriff auf Strukturen zu erleichtern.

Testgeräte + Prüfplätze-JTAG/Boundary-Scan überbrückt die Lücke

Entwicklungstrends des Baugruppentests

01.11.2016Eine kurze Markteinführungszeit stellt nach wie vor eine große Herausforderung für OEMs dar. Der Testprozess gerät hierbei manchmal aus dem Fokus. Um ein hohes Qualitätsniveau aufrechtzuerhalten, ist er jedoch notwendig. JTAG bietet die Möglichkeit, den Testzugriff auf Strukturen zu erleichtern. mehr...

Bild 1: Dargestellt ist eine Vier-Drahtmessung, bei der ein Digitalmultimeter und Prüflinge über die X-Anschlüsse einer Matrix verbunden sind.

Testgeräte + Prüfplätze-Welchen Zweck verfolgt eine Switching & Routing Software?

Schalten mittels einer Routing-Software

31.10.2016Mit zunehmender Komplexität elektronischer Geräte wird die Teststrategie entsprechend komplizierter. Die Switching-&-Routing-Software hilft dabei, eine problemlose und einfache Entwicklung von Schaltsystemanwendungen bei sehr geringem Programmieraufwand zu verwirklichen. Dieser Artikel erläutert die Realisierung einer komplexen Testsequenz anhand einer beispielhaften Architektur mit mehreren Schaltmodulen. mehr...

Motorenprüfstand von Innen

Testgeräte + Prüfplätze-weisstechnik | Weltweit führende Prüftechnik

Testen, prüfen und simulieren aus einer Hand

31.10.2016Weiss Umwelttechnik ist einer der weltweit führenden Spezialisten für Prüftechnik und Umweltsimulation. Die erprobten und ausgereiften Systeme aus einer Hand sichern schnelle, zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse für unterschiedlichste Umweltanforderungen und klimatische Bedingungen. mehr...

Strukturelle ATE-Systeme können mit nur wenigen Messverfahren Spannung, Frequenz, Zeit und elektrischen Durchgang an einigen hundert Kanälen erfassen.

Testgeräte + Prüfplätze-Warum strukturelle Baugruppentests wichtig sind

Schritt für Schritt zum passenden Testsystem

28.10.2016Schon zu Beginn der Planung eines Testsystems sind zahlreiche Aspekte zu berücksichtigen – doch dieser Aufwand zahlt sich aus. Denn nur wer die Diagnosetiefe unter Berücksichtigung aller relevanten Faktoren genau definiert, erhält am Ende ein Testsystem, das die Kosten wieder reinholt. mehr...

Beim KohYoung-Anwendertag fanden die Workshops direkt an der Maschine statt, und die Anwender konnten die neuen Funktionen in Kleingruppen live an den 3D-SPI- und 3D-AOI-Systemen testen.

Testgeräte + Prüfplätze-3D-SPI- und 3D-AOI-Systeme

Smartrep veranstaltet Koh-Young-Anwendertage

20.10.2016Direkt an der Maschine und damit absolute Praxisnähe: Die Teilnehmer der Koh-Young-Anwendertage profitierten vom fachkundigen Wissenstransfer rund um die SPI- und AOI-Technik. Die Workshops fanden direkt an der Maschine statt, und die Anwender konnten die neuen Funktionen in Kleingruppen live an den 3D-SPI-und 3D-AOI-Systemen testen. Dadurch ergaben sich intensive Gespräche und reger Fachaustausch. Kein Wunder, dass das Fazit des Publikums lautete: „Nah am Hersteller, nah am Gerät“ mehr...

Test Contactor YED274-Kelvin

Testgeräte + Prüfplätze-Manuelle Prüfung oder Volumentest

Kelvin-Testsockel für QFN, SOP und QFP

20.10.2016Mit den Kelvin-Testsockeln von Yamaichi Electronics für den Einsatz im Labor und Testfloor lassen sich Halbleiterbausteine im SOP, QFP und QFN-Gehäuse zuverlässig testen. mehr...

Hochvolt-Isolationstestplatz

Testgeräte + Prüfplätze-Sicherheitskonzept nach DIN EN 61010

Isolationstestplatz für Hochvolt-Messmodule

19.10.2016Mit dem Hochvolt-Isolationstestplatz können Anwender CSM-Messmodule auf Schäden an der HV-Isolierung testen – und zwar vor Ort. Der Testplatz besteht aus Software, Isolationstester, Self-Test-Adapter und Zubehör. mehr...

Softwareerweiterung 360View/QFP

Testgeräte + Prüfplätze-Exakte 3D-Aufnahmen

AOI-Systeme mit acht Kameras

17.10.2016Die Darstellung der Seitenansichten elektronischer Komponenten, bei vielen 3D-Systemen mit orthogonalen Kameras ein großer Schwachpunkt, lässt sich nun mithilfe der geneigten Kameras der Viscom-Sensormodule und der Softwareerweiterung 360View realitätsgetreu darstellen. mehr...

HiL-System Novacarts Battery

Testgeräte + Prüfplätze-Batteriemanagement für Elektro- und Hybridfahrzeuge

HiL-Simulator für alle Lithium-Technologien

27.09.2016Ausgestattet mit umfassenden Funktionen für die Zellsimulation eignet sich das Hardware-in-the-Loop-System (HiL) Novacarts Battery besonders für die Validierung von Batteriemanagement-Systemen (BMS) mit passivem oder aktivem Cell Balancing. mehr...

Produktplattform Novacarts 4.0

Testgeräte + Prüfplätze-Modulare Produktplattform

Flexible HiL-Simulatoren nutzen Gigabit-Ethernet

23.09.2016Neue Schnittstellen und ausgebaute Echtzeit-Fähigkeiten zeichnen die Produktplattform Novacarts 4.0 aus. Die jüngste Generation von HiL-Simulatoren eignet sich für anspruchsvolle Testing-Anwendungen wie die Batteriesimulation sowie für klassische Einzel- und Verbundtests in allen Fahrzeugdomänen. mehr...

Heitec-Gehäuse für den Einsatz in Viscom-Testequipment inklusive anwendungsspezifischer Elektronik.

Gehäuse + Schaltschränke-Intelligentes Packaging

IPC-Gehäuse zur Integration in Inspektionssysteme

23.09.2016Kleine Veränderungen an einem 19“-Standardindustriegehäuse können große Wirkung erzielen. Ein gutes Beispiel dafür ist ein IPC-Gehäuse, das Heitec für den Prüftechnik-Hersteller Viscom entwickelt hat. mehr...

Bild 1: National-Instruments-Mitgründer und CEO Dr. James Truchard während seiner Keynote.

Modulare Messtechnik-Massive MIMO, TSN, HIL und VST2

NI Week 2016

26.08.2016Die NI Week 2016 fand in diesem Jahr in der ersten Augustwoche wie immer in Austin/Texas statt. Rund 3100 Teilnehmer konnten sich in Kongress und Ausstellung über neue Entwicklungen und Anwendungen von und mit National Instruments messtechnischer Hard- und Software informieren. mehr...

211pr0916_Göpel_THT inspection

Baugruppenfertigung-Noch höhere Bauteile inspizieren

AOI-System zur Integration in die Fertigungslinie

23.08.2016Für eine flexiblere Integration in den Fertigungsprozess gibt es das AOI-System THT-Line von Göpel electronic nun auch mit einer Bauteilfreiheit bis zu 130 mm. Die Inspektion besonders hoher Komponenten kann damit bis zu einer Höhe von 100 mm erfolgen. mehr...

Bild 1: Typischer Aufbau eines Messplatzes zur Charakterisierung von Halbleiter-Produkten auf der Wafer-Ebene von Keysight Technologies und Cascade Microtech.

Testgeräte + Prüfplätze-On-Wafer-Messungen

Schlüsselfertige Messplätze – schnell aufgebaut, konfiguriert und betriebsbereit

18.07.2016Die Entwicklungszyklen in der Halbleitertechnik werden zunehmend kürzer und die Anforderungen an die Messgenauigkeit in der Produktentwicklung und Produktionskontrolle steigen. Der zeitliche Aufwand zum Aufbau und zur Konfiguration eines entsprechenden Mess-Systems ist daher ein wesentlicher Faktor für die Time-to-Market neuer Chip-Produkte. Keysight Technologies und Cascade Microtech haben dafür gemeinsam eine verhältnismäßig schnelle Lösung entwickelt. mehr...

Baugruppenfertigung-Support à la Carte

Erweiterung des Testparks um weitere High-End Systeme

23.06.2016Testdienstleister müssen mit den fortschreitenden technologischen Entwicklungen stets Schritt halten, um im Wettbewerb bestehen zu können. Neben umfangreichen Dienstleistungen gilt es allerdings auch, entsprechendes Equipment nicht nur bereitzustellen, sondern auch laufend zu investieren. mehr...

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