Testgeräte + Prüfplätze

Für alle Bluetooth-Funktionen

Hochvolt-Isolationstestplatz
Testgeräte + Prüfplätze-Sicherheitskonzept nach DIN EN 61010

Isolationstestplatz für Hochvolt-Messmodule

19.10.2016Mit dem Hochvolt-Isolationstestplatz können Anwender CSM-Messmodule auf Schäden an der HV-Isolierung testen – und zwar vor Ort. Der Testplatz besteht aus Software, Isolationstester, Self-Test-Adapter und Zubehör. mehr...

Softwareerweiterung 360View/QFP
Testgeräte + Prüfplätze-Exakte 3D-Aufnahmen

AOI-Systeme mit acht Kameras

17.10.2016Die Darstellung der Seitenansichten elektronischer Komponenten, bei vielen 3D-Systemen mit orthogonalen Kameras ein großer Schwachpunkt, lässt sich nun mithilfe der geneigten Kameras der Viscom-Sensormodule und der Softwareerweiterung 360View realitätsgetreu darstellen. mehr...

HiL-System Novacarts Battery
Testgeräte + Prüfplätze-Batteriemanagement für Elektro- und Hybridfahrzeuge

HiL-Simulator für alle Lithium-Technologien

27.09.2016Ausgestattet mit umfassenden Funktionen für die Zellsimulation eignet sich das Hardware-in-the-Loop-System (HiL) Novacarts Battery besonders für die Validierung von Batteriemanagement-Systemen (BMS) mit passivem oder aktivem Cell Balancing. mehr...

Produktplattform Novacarts 4.0
Testgeräte + Prüfplätze-Modulare Produktplattform

Flexible HiL-Simulatoren nutzen Gigabit-Ethernet

23.09.2016Neue Schnittstellen und ausgebaute Echtzeit-Fähigkeiten zeichnen die Produktplattform Novacarts 4.0 aus. Die jüngste Generation von HiL-Simulatoren eignet sich für anspruchsvolle Testing-Anwendungen wie die Batteriesimulation sowie für klassische Einzel- und Verbundtests in allen Fahrzeugdomänen. mehr...

Heitec-Gehäuse für den Einsatz in Viscom-Testequipment inklusive anwendungsspezifischer Elektronik.
Gehäuse + Schaltschränke-Intelligentes Packaging

IPC-Gehäuse zur Integration in Inspektionssysteme

23.09.2016Kleine Veränderungen an einem 19“-Standardindustriegehäuse können große Wirkung erzielen. Ein gutes Beispiel dafür ist ein IPC-Gehäuse, das Heitec für den Prüftechnik-Hersteller Viscom entwickelt hat. mehr...

Bild 1: National-Instruments-Mitgründer und CEO Dr. James Truchard während seiner Keynote.
Modulare Messtechnik-Massive MIMO, TSN, HIL und VST2

NI Week 2016

26.08.2016Die NI Week 2016 fand in diesem Jahr in der ersten Augustwoche wie immer in Austin/Texas statt. Rund 3100 Teilnehmer konnten sich in Kongress und Ausstellung über neue Entwicklungen und Anwendungen von und mit National Instruments messtechnischer Hard- und Software informieren. mehr...

211pr0916_Göpel_THT inspection
Baugruppenfertigung-Noch höhere Bauteile inspizieren

AOI-System zur Integration in die Fertigungslinie

23.08.2016Für eine flexiblere Integration in den Fertigungsprozess gibt es das AOI-System THT-Line von Göpel electronic nun auch mit einer Bauteilfreiheit bis zu 130 mm. Die Inspektion besonders hoher Komponenten kann damit bis zu einer Höhe von 100 mm erfolgen. mehr...

Bild 1: Typischer Aufbau eines Messplatzes zur Charakterisierung von Halbleiter-Produkten auf der Wafer-Ebene von Keysight Technologies und Cascade Microtech.
Testgeräte + Prüfplätze-On-Wafer-Messungen

Schlüsselfertige Messplätze – schnell aufgebaut, konfiguriert und betriebsbereit

18.07.2016Die Entwicklungszyklen in der Halbleitertechnik werden zunehmend kürzer und die Anforderungen an die Messgenauigkeit in der Produktentwicklung und Produktionskontrolle steigen. Der zeitliche Aufwand zum Aufbau und zur Konfiguration eines entsprechenden Mess-Systems ist daher ein wesentlicher Faktor für die Time-to-Market neuer Chip-Produkte. Keysight Technologies und Cascade Microtech haben dafür gemeinsam eine verhältnismäßig schnelle Lösung entwickelt. mehr...

Baugruppenfertigung-Support à la Carte

Erweiterung des Testparks um weitere High-End Systeme

23.06.2016Testdienstleister müssen mit den fortschreitenden technologischen Entwicklungen stets Schritt halten, um im Wettbewerb bestehen zu können. Neben umfangreichen Dienstleistungen gilt es allerdings auch, entsprechendes Equipment nicht nur bereitzustellen, sondern auch laufend zu investieren. mehr...

Smart Probe für den drahtlosen Einsatz
Testgeräte + Prüfplätze-Automatische Leistungsberechnung

HLK-Messgeräte zum drahtlosen Verbinden

25.04.2016RS Components hat die ersten professionellen drahtlosen Test- und Messinstrumente für die Heizungs-, Lüftungs- und Klimatechnik ins Sortiment aufgenommen. Die Geräte sind sind für den Einsatz mit Smartphones und Tablets optimiert. mehr...

Optifiber Pro OTDR mit Smartloop
Testgeräte + Prüfplätze-Bidirektionale Testfunktion

OTDR-Messgerät halbiert die Prüfzeit

20.04.2016Ausgestattet mit der Smartloop-Technologie kann das Optifiber Pro OTDR von Fluke Networks als erstes Messgerät dieser Art standardmäßig zwei getrennte Faserverbindungen in beide Richtungen von einem Ende aus in einem Test prüfen. mehr...

Klein wie ein Spatz: Das Sparrow MTS 30 genannte Testsystem lässt sich sowohl als Bench-Top-Tester einsetzen als auch in ein 19-Zoll-Rack einschieben.
Testgeräte + Prüfplätze-Teil der Fertigungslinie „Future Packaging“

Flexibler In-Circuit-Tester

04.04.2016Auch in diesem Jahr ist das Sparrow MTS 30 genannte Testsystem von Digitaltest Bestandteil der vom Frauhofer IZM organisierten Fertigungslinie „Future Packaging“ und bei Engmatec ausgestellt. mehr...

Mit dem intelligenten Materiallagersystem Smart Tower läuft die Produktion reibungslos.
Testgeräte + Prüfplätze-Reibungslose Produktion

Universelles AOI und intelligentes Lagersystem

22.03.2016Neben dem intelligenten Materiallagersystem Smart Tower präsentiert Smartrep das AOI-System iSpector von MEK. Das System basiert auf der bewährten 2D-AOI-Technologie und eignet sich besonders für kleine und mittlere Fertiger sowie schnelle Rüstwechsel. mehr...

Handliches Inspektionssystem Dehncheck
Testgeräte + Prüfplätze-Industrielle Bildverarbeitung

Inspektionskamera per App steuern

15.03.2016Die handliche Inspektionskamera Dehncheck macht Unsichtbares sichtbar und bietet sichere Inspektionen mit Funkverbindung zu Smartphone oder Tablet. Das System dient der regelmäßigen optischen Prüfung und Dokumentation des Zustandes von elektrischen Anlagen bis 36 kV/15 bis 60 Hz. mehr...

Röntgen-Computer-Tomographie eines Interposers mit eingefärbten Strukturen des Interposers.
Bonding + Assembly-Röntgeninspektionsverfahren

Die Aufbau- und Verbindungstechnik wird durchleuchtet

10.03.2016Die Entwicklung elektronischer Systeme ist untrennbar mit der Entwicklung der zugehörigen Aufbau- und Verbindungstechnik (AVT) verbunden und ebenfalls mit der Prüf- und Inspektionstechnik, die zur Erfolgskontrolle erforderlich ist. Wo sind heute die Grenzen der Prüf- und Inspektionstechnik? Welche Fehler können detektiert werden? mehr...

Bild 1: Das Goniophotometer LGS 350  bewegt die γ-Achse mit bis zu 34 °/s.
Optische Größen-Lichtmesstechnik

Energieeffizienz- und goniophotometrische Messungen von LED-Leuchten

03.03.2016Prüfberichte zur ErP-Richtlinie für alle LED-Produkte schnell und präzise erstellen oder kostengünstige goniophotometrische Messungen nach internationalen Standards durchführen – Instrument Systems bietet dafür passende Lichtmesssysteme und stellt diese vor. mehr...

Mit dem Basisstationstester CMW 500 lassen sich vernetzte Systeme ohne Zugang zu einem Mobilfunknetz testen.
Testgeräte + Prüfplätze-Zugang zum Mobilfunknetz simulieren

M2M- und IoT-Geräte professionell testen

13.02.2016Bei der Entwicklung von Geräten und Anwendungen, die über das Mobilfunknetz mit anderen Komponenten eines M2M- oder IoT-Systems kommunizieren sollen, sind vor dem Rollout der Mobilfunkfunktionen umfangreiche Tests erforderlich. Für Gerätehersteller, die weder über das benötigte Mess- und Testequipment noch über eigenes Know-how im Mobilfunkbereich verfügen, bietet sich die Zusammenarbeit mit einem Partner aus der Messtechnikbranche an. mehr...

Die internen Dioden sind zwischen einem Anschluss und Gnd zu messen.
Testgeräte + Prüfplätze-Fehlern auf der Spur

Pionierlösungen für Leiterplattentests

05.02.2016Moderne Leiterplatten sind mit größerer Lagenzahl und deutlich kleineren Strukturen im Vergleich zu den 1990er-Jahren erheblich komplexer geworden. Nachdem die Hersteller begonnen haben, sowohl passive, als auch aktive Bauteile wie Mikrocontroller, Spannungsregler und sogar Leistungsbauteile wie MOSFETs in die Leiterplatte einzubetten, ergeben sich auch ganz neue Anforderungen an die elektrischen Tests. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze- Test - Debugging - Feinabstimmung

JTAG/Boundary-Scan: Entwicklungsphasen und Zukunftsausblick

02.02.2016Der Weg der JTAG-Entwicklung verlief nicht immer nur geradlinig. In dem grenzenlosen Labyrinth, das die Elektronikentwicklung umgibt, gab es auch einige Sackgassen. Es war und ist stets ein schwieriger Balanceakt, tragfähige, standardisierte und profitabel nutzbare Testverfahren zu entwickeln. Seine Einschätzungen über die zukünftigen Entwicklungen vermittelt der Autor in diesem Artikel. mehr...

501iee1215_Amotronics_SATURN_Rekorder-Sequenzer
Sensorik + Messtechnik-Messtechnik

Datenerfassung und Steuerung in einem

20.12.2015Eine integrierte Einheit aus Datenerfassungs- und Steuermodulen vereinfacht die Automatisierung von Prüfreihen in Hochleistungslaboren. Das flexible System besteht aus Transientenrekorder und taktgebendem Sequencer, je nach Anwendung auch Timer genannt, in einem Gehäuse. mehr...

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