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Testgeräte + Prüfplätze

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AOI nicht nur für die Großserie

22.02.2002- FachartikelDie günstige Preisgestaltung dieser AOI-Systeme erlaubt es in vielen Anwendungen, anstatt eines relativ teuren Kamera-Systems mehrere Systeme (nach jedem wichtigen Produktionsschritt) einzusetzen. Die Systeme, die mit einer Farb-CCD-Zeilenkamera ausgestattet sind und damit sehr schnelle Prüfgeschwindigkeiten ermöglichen, stehen als Einzelplatz-Version mit Handaufnahme und als Inline Versionen zur Verfügung. mehr...

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Preisgünstige Lösung zur Funktionsprüfung von Relais

18.12.2001- FachartikelUm mehrere Relais auf einem Adapter zu testen und dabei diese einzeln ansteuern zu können, war pro Relais eine größere Anzahl Kontaktfahnen mit unterschiedlichen Längen zu kontaktieren. mehr...

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Multifunktionale Prüfzelle

18.12.2001- FachartikelEine automatisierte Testzelle, ganz auf Standardkomponenten basierend – dieses Ziel haben sich drei scheinbar gänzlich unterschiedliche Partnerfirmen auf die Fahne geschrieben, nicht nur um zu zeigen, dass man sich auf seine Kernkompetenzen besinnend gemeinsame Produkte entwickeln kann, wie man es allein auf keinen Fall so schnell und so effektiv tut. Das Ergebnis ist genau auf die aktuellen Bedürfnisse einer Vielzahl von Anwendern zurecht geschnitten. mehr...

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2D, 3D plus AOI

17.12.2001- FachartikelCyber Technologies bzw. Cyber Optics steht für die Entwicklung und Herstellung von intelligenten Messsystemen für hochgenaue und berührungslose dimensionale Messungen. mehr...

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Höherer Qualitätsstandard durch Time-Domain-Reflectometry

06.11.2001- FachartikelDer Tenor bei der Entwicklung neuer Halbleiterbausteine, ob es sich um einen Mikrokontroller, einen Speicherchip, Bausteine für die Kommunikationselektronik oder auch Mixed-Signal-Bausteine handelt, ist immer von höheren Takt- und Datenraten geprägt. In einem fertigen Produkt, z.B. PC, müssen mehrere Bausteine und Bausteingruppen zusammenarbeiten. Es bedarf also der Integration von Siliziumchips mittels Gehäuse, Leiterkarten, Steckverbinder und anderen Verbindungsleitungen. Dies gelingt aber in vielen Fällen nicht sofort und es sind weitere Versuchsreihen notwendig, die den Entwicklungsprozess verlangsamen. mehr...

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Automatisch Testen

06.11.2001- FachartikelSpea, ein typisch europäischer Testsystemhersteller - hat sich von Anbeginn trotz aller Höhen und Tiefen, die das ATE-Geschäft bis heute mit sich gebracht hat, tapfer geschlagen und nimmt mittlerweile eine führende Marktstellung ein. Die deutsche Spea GmbH wird im nächsten Jahr 20 Jahre alt. Seit 1982 agiert sie von Buseck, nahe Gießen aus in Sachen Testsysteme für Elektronik und Automation. mehr...

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Steigerung der Qualität – Reduzierung der Nachfolgekosten

06.11.2001- FachartikelBei der Herstellung von elektronischen Flachbaugruppen ist eine Fehlerrate zwischen 2 und 30% zu erwarten. Diese Zahl variiert je nach Kompliziertheit, Komplexität und natürlich Erfahrung der Entwickler. Deshalb müssen Baugruppen zu 100% getestet werden. mehr...

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Vision aus dem Baukasten

06.11.2001- FachartikelVor zehn Jahren hat Qualimatest das erste PC-basierte Vision-System unter LabVIEW von National Instruments entwickelt. Seither hat sich diese Software, die im Laborbereich schon weit verbreitet war, immer mehr auch in der Industrie als Standard durchgesetzt. mehr...

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3D-Inspektion in der Aufbau- und Verbindungstechnik

06.11.2001- FachartikelNanoFocus hat die Leistungen des 3D-Laserprofilometers µScan AF2000 Hybrid speziell auf die Belange der Hybrid- und Dickschichtproduktion und der Aufbau- und Verbindungstechnik zugeschnitten. µScan ist mit neuartiger Autofocus-Sensor-Technologie ausgestattet. Mit der bemerkenswerten vertikalen Auflösung von 15 nm bei einem Arbeitsbereich von 1,5 mm ist der Sensor der Allrounder für alle Messanwendungen in der Mikroelektronikfertigung. mehr...

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Röntgeninspektion – lohnt sich das?

05.11.2001- FachartikelWas kann man mit einem einfachen Röntgeninspektionssystem anfangen? Wann lohnt sich die Investition in ein manuelles System? Wie kann man mit einfach zu bedienenden Geräten effektive Qualitätssicherung betreiben? Einen schnellen und flexiblen Röntgeninspektionsservice kann ein Outsourcing-Unternehmen aus dem Raum Stuttgart jetzt schnell und flexibel und zu fairen preisen anbieten. mehr...

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Über die Notwendigkeit der Lotpasteninspektion

05.11.2001- FachartikelDie Fehlerwahrscheinlichkeit bei der Fertigung von elektronischen Flachbaugruppen steigt, je kleiner das Raster der zu bestückenden Bauelemente ist. Für die Kontrolle dieser Boards auf Bestückungsfehler, Zinnbrücken u.v.a. gibt es sehr leistungsfähige AOI-Systeme, mit denen eine nahezu hundertprozentige Inspektion gewährleistet wird. Bei festgestellten Fehlern erfolgt eine manuelle Reparatur. Der Aufwand für diesen Arbeitsschritt ist groß und kann jede Kalkulation gefährden. Der große Kosten- und Zeitdruck, unter denen die Elektronikfertiger stehen, zwingt geradezu zur Optimierung der Prüfstrategie. mehr...

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Mehrere Prüfschritte in einem Gerät

05.11.2001- FachartikelDer Wechsel von einer Sonderprüfanlage zur anderen strapaziert einerseits den Geldbeutel und zum anderen macht irgendwann einmal auch das Controlling nicht mehr mit. Also her mit einem System, das variable auf mehrere Anforderungen im Handumdrehen umrüstbar ist und zudem zu ansehlichen Rationalisierungseffekten in der Fertigung führt. mehr...

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Multifunktionaler adapterloser Tester

05.11.2001- FachartikelAdaptionskosten und die Notwendigkeit, Baugruppen noch vor Entwicklungsfreigabe zu prüfen, machen einen Einsatz von herkömmlichen Testsystemen auf der Basis von Nadelbettadaptern fast unmöglich. Eine Alternative stellt das MTS500 Condor, ein adapterloses Testsystem von Digitaltest, dar. mehr...

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Kompetenz beim Test

05.11.2001- FachartikelEin solides Know-how bei Halbleiter-Backend-Materialien und dem Test beim Packaging auf der einen, solide finanzielle Möglichkeiten durch liquide Besitzer auf der anderen Seite haben die Dage-Gruppe zu weiteren Expansionen veranlasst, die deutlich in Richtung Test gehen. mehr...

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Gemischtes Doppel: Universaltester plus Prober in Kombination

02.11.2001- FachartikelUniversaltester im DD-Raster sind an die Grenzen gestoßen. Zum einen sind nicht genügend Prüfpunkte pro Flächeneinheit verfügbar und zum anderen schränken kleinste Kontaktraster und Verzüge ganz grundsätzlich den Einsatz von Prüfadaptern ein. ATG zeigt mit dem neu entwickelten Universaltester EXAline MD und seinen State of the Art Probern einen Weg, dieses Problem zu umgehen. Zielrichtung dieser Entwicklung war es, einen möglichst universellen Tester zu schaffen. mehr...

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ICT, FT, AXI, AOI…

02.11.2001- FachartikelMit ca. 103 Mio. US-$ hatte Agilent Technologies im Jahr 2000 bereits einen weltweiten Marktanteil von 25,5 % und damit die Spitzenposition bei AOI-Systemen für die Fertigung elektronischer Baugruppen inne. Das lässt darauf schließen, dass sich der Kauf der irischen MVT und die Integration in die Agilent-Organisation jetzt schon positiv niederschlägt. Die ersten Schritte um diesen erfolgreichen Weg weiter zu gehen, ist der kürzlich eingeweihte Neubau der Irish Imaging Operation von Agilent Technologies Manufacturing Test Division. mehr...

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Innovative Testdienstleistungen mit Flying-Prober

25.10.2001- FachartikelDie Kontaktierraster werden immer enger. Die Padgröße für die Bauteilverlötung sowie die Prüfpadgrößen schrumpfen kontinuierlich. Betrug der Durchmesser eines Bauteilpads Mitte der 90-er Jahre noch 250 µm, so sind heutzutage Pads mit einem Durchmesser von etwa der Hälfte, also 125 µm anzutreffen. Immer mehr Baugruppen haben aus Kostengründen und bzw. oder aufgrund der hohen Bestückungsdichten keine Prüfpads mehr. Klassische Kontaktiertechniken wie Nadelbettadapter können für solche Baugruppen nicht mehr eingesetzt werden. mehr...

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Die richtige Prüfstrategie

25.10.2001- FachartikelVor nunmehr drei Jahren ging Ingun Prüfmittelbau aus Konstanz nach über 30-jähriger Erfahrung im Prüfmittelbau mit eigenen Testsystemen an den Markt. Damit beantwortete man die enorme Nachfrage, die immer wieder an Europas führenden Hersteller von gefederten Kontaktstiften und Prüfadaptern herangetragen worden war. Zu dieser Zeit entstand auch der erste Kontakt zur Firma ASE Testsysteme des Ingenieurbüros Droehse, das mit Funktions-Testsystemen auf dem deutschen Markt vertreten war und ideale Voraussetzungen für eine Zusammenarbeit mitbrachte. mehr...

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Mehr als Klarschrifterkennung

25.10.2001- FachartikelNeben der Kontrolle von Bauelementen auf richtige Bestückung und Lötung stellt auch die Verifikation des Bauteiltyps ein entscheidendes Kriterium für die fehlerfreie Produktion dar. Jedoch nicht nur für das Lesen von Aufdrucken auf Bauelementen, sondern auch zur Erfassung von Seriennummern oder Baugruppenversionen ist die Klarschriftlesefunktion (OCR) ein wichtiger Leistungsparameter von AOI-Systemen. Entscheidend für den industriellen Einsatz dieser Erkennungsmöglichkeit ist jedoch nicht allein die integrierte OCR-Funktion, sondern vielmehr auch deren Intelligenz, um den hohen Anforderungen der Elektronikfertigung gerecht zu werden. mehr...

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2D- und 3D-Röntgeninspektion in komplementären Testumgebungen

25.10.2001- FachartikelDie automatische Röntgeninspektion elektronischer Baugruppen (AXI - Automated X-Ray Inspection) findet zunehmende Verbreitung sowohl als alternatives als auch als komplementäres Testverfahren, da es dem Hersteller im Hinblick auf gewisse Herausforderungen im Testbereich einige Vorteile bietet. mehr...

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