Mit der Laufzeitanalyse C-RUN profitieren Embedded-Entwickler über den gesamten Entwicklungszyklus von vollständig integrierter, leistungsstarker Laufzeitanalyse-Funktionalität.

Mit der Laufzeitanalyse C-RUN profitieren Embedded-Entwickler über den gesamten Entwicklungszyklus von vollständig integrierter, leistungsstarker Laufzeitanalyse-Funktionalität.IAR Systems

Die Laufzeitanalyse-Funktion C-Run ergänzt die Entwicklungs-Toolchain IAR Embedded Workbench. Damit hat der Entwickler die Möglichkeit, jederzeit eine Laufzeitanalyse durchzuführen. Durch die enge Verzahnung mit der Toolchain unterstützt sie den gesamten Prozess mit Implementierung, Test und Debugging, sodass der Nutzer seine Codequalität bereits in einem sehr frühen Entwicklungsstadium prüfen kann. Auf diese Weise wird eine höhere Zuverlässigkeit des Codes sichergestellt sowie die Einhaltung aller Vorgaben und Standards.

C-Run führt die Laufzeitanalyse direkt in der Embedded Workbench aus und überwacht die Ausführung der Anwendung. Der Entwickler kann Schwachstellen und Programmfehler, die sich üblicherweise erst in der Endanwendung zeigen, somit frühzeitig erkennen. Der Speicherbedarf und der Einfluss auf die Ausführungsgeschwindigkeit sind außerordentlich niedrig, was das Testen auf der Zielhardware sehr viel effizienter macht.

C-Run bietet flexible Einstellungen für einzelne oder mehrfache Prüfungen in jedem Testlauf. Die Funktion beinhaltet auch Prüfungen von Begrenzungen und Heapspeicher, die sicherstellen, dass die Zugriffe auf Arrays und andere Objekte im vorgesehenen Bereich stattfinden, sowie eine arithmetische Prüfung der in den Rechenvorgängen verwendeten Werte. IAR Embedded Workbench für ARM ist die erste Toolsuite mit integrierter C-Run-Funktion und entsprechend den Prioritäten der Kunden werden auch alle anderen Varianten der Toolchain um diese Funktion erweitert.