Mit dem CT350 Meteor stellt Dr. Eschke Elektronik ein flexibel einsetzbares High-Speed-Mixed-Signal-Testsystem für den Halbleiter- und Komponententest vor. Durch die direkte Kopplung des Prüflings (direct docking) über ein Performance Board wird eine maximale Testgeschwindigkeit von 300 MS/s digital und 1 GS/s analog bei optimaler Platzausnutzung, Flexibilität und Rüstzeit des Systems erreicht.


Das abgebildete System verfügt außerdem über Waveform-Generatoren, Digital-Scope-Funktionen, Strom- und Spannungsquellen für den analogen Funktionstest bis 80 V, hochpräzise 24-Bit-Messkanäle und Stromversorgungsmodule bis 11 A. Die Kommunikation mit dem Steuer-PC erfolgt über das schnelle USB.2-Interface. Je nach Konfiguration stellt das Testsystem 442 Mixed-Signal-Testkanäle bereit, durch den Einsatz weiterer Module bis zu 1 000 Kanäle. Das Software-Paket mit einer einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche ermöglicht eine kurzfristige Testprogrammerstellung durch Pattern-Generatoren, Teach-in-Funktionen und Konvertierungsfilter für den Im- und Export von Testvektoren.


Die Anwendung einer Hochsprache ist keine Voraussetzung für den Einsatz des Testers. Auch die Kopplung und Synchronisation mit externen Geräten und die Ergänzung applikationsspezifischer Software (DLL und direkt ausführbare Programme) ist möglich. Die am Tester vorhandenen Standardschnittstellen IEEE488, CAN-Bus, LIN-BUS, Ethernet, RS232, SPI, I²C, …) ermöglichen sehr effektiv den Test zu diesen Bussystemen und die Einbeziehung externer Geräte für Testaufgaben bei Bedarf.


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