Die Fischerscope X-Ray Conti 5000-Geräte sind energiedispersive Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (EDXRF) für die Inline-Prozesskontrolle. Sie sind speziell für die kontinuierliche zerstörungsfreie Analyse von Legierungen und die Messung dünnster Schichten und Schichtsysteme, wie z. B. in der Photovoltaik-Produktion, konzipiert.
Hier können die Dicke und Zusammensetzung von CIGS, CIS, CdTe auf unterschiedlichen Grundwerkstoffen wie Glasplatten, Metall- oder Plastikfolien gemessen werden. Sowohl Röntgenröhre als auch Halbleiterdetektor können auf die jeweilige Anwendung optimal abgestimmt werden. Zur Integration in Fertigungsanlagen ist die Conti 5000 mit einem genormten Montageflansch ausgestattet. Verschiedene modular aufgebaute Varianten sind erhältlich für die Messung an Luft oder im Vakuum. Mit einem zusätzlichen Kühlflansch sind auch Messungen auf sehr heißen Substraten mit bis zu 500 °C Oberflächentemperatur möglich. Die Kalibrierung erfolgt einfach und schnell mit einem Werkstück-Master direkt im Fertigungsablauf. Die Bedienung, die Auswertung der Messungen sowie die übersichtliche Darstellung der Messergebnisse erfolgt per PC mit der einfach zu bedienenden Software WinFTM.
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