Hauptanwendungen sind die Analyse der Durchgangscharakeristik (S-Parameter) von elektrischen Schaltungen im Sub-Terahertz-Band sowie die Charakterisierung und Lokalisierung von Fehlern in Chip-Stromkreisen (TDT/TDR). Die neue Technik überwinde die technischen Hindernisse und hohen Kosten bestehender Techniken, heißt es bei dem Hersteller. Bis März 2016 sollen die ersten Testgeräte mit Terahertz-Technik auf den Markt kommen.