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Keithley Instruments stellt eine Reihe von Hardware-, Firmware- und Software-Erweiterungen für sein Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor. Der Upgrade für die Keithley Test Environment Interactive (KTEI) V7.2 beinhaltet u. a. 9 neue Testbibliotheken für Solarzellen, einen erweiterten Frequenzbereich für die C-V-Messfunktion (Kapazität-Spannung) des Systems und eine Unterstützung für das Instrumenten-Chassis mit 9 Steckplätzen.

Der Software-Upgrade unterstützt auch DLCP-Messungen (Drive-Level Capacitance Profiling), ein neues Testverfahren für Solarzellen, das mit den bislang erhältlichen Testlösungen nur schwierig durchführbar war. DLCP liefert Informationen zur Fehlerdichte bei Dünnfilm-Solarzellen. Bestehende C-V-Karten (Kapazität-Spannung) des Modells 4200-CVU, die im November 2007 vorgestellt wurden, können für dieses Testverfahren modifiziert werden.

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