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LX Instruments zeigt das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960 Marvin Test Solutions auf der Productronica 2015.
Ein wichtiger Systembestandteil der TS-900 ist die neueste Marvin-Entwicklung, die Digital I/O-Karte GX5296.

Marvin Test Solutions (früher Geotest) und LX Instruments stellen ein neues Halbleiter- und Funktionstestsystem vor:  Die PXI-Plattform TS-900 bietet eine Funktionalität und Leistung, die laut Hersteller mit proprietären ATE-Systemen vergleichbar ist, dabei aber bedeutend kleiner ausfällt. Ein wichtiger Systembestandteil ist die Digital-I/O-Karte GX5296 von Marvin, mit einem kanalweisen Timing, programmierbaren Logiklevel und voller PMU-Funktionalität. Damit eignen sich die Halbleitertester der TS-900-Familie für Anwendungen in den Bereichen Verifizierung, spezialisierte Produktion und Fehleranalyse. PXI-basierte Testsysteme sind aufgrund des breiten Angebots an Software-Werkzeugen, der intuitiven Software-Entwicklungs- und Test-Execution-Umgebung und der offenen PXI-Architektur für die Entwicklung kosteneffizienter Hochleistungs-ATE-Plattformen prädestiniert.

Productronica 2015: Halle A1, Stand 345