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Omron

Sie verbindet die von SPI-, AOI- und AXI-Systemen ermittelten statistischen Werte, die Analyse von Pseudofehlern und ein Werkzeug zur Darstellung der SPI-, AOI- und AXI-Bilder zum kombinierten Fehlerbild. So können im Fine-Tuning nun auch die prozessbezogenen Problemzonen besser und systematischer aufgezeigt werden. Dabei sollen eben nicht nur die Gut-Schlecht-Bewertung, sondern auch Fehler und Probleme im Prozess aufgezeigt werden, die eine übergeordnete Hilfe für Eingriffe unterstützen. Gemeinsam mit lokalen Partnern wie ATEcare können die Geräte so auch besser in vorhandene Prozessdaten in MES-, QS- und Traceability-Werkzeugen eingebunden werden.