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Das Modell 2657A bietet je zwei unabhängige A/D-Wandler für jede der beiden Modi - einer für Strom und einer für Spannung.
Jay Shan ist als Manager für Worldwide Marketing Operations bei Keithley Instruments in Cleveland, Ohio, USA, tätig.

Durch die eingebaute 3000 V, 180-W-Quelle erlaubt das Modell 2657A laut Keithley Instruments die Einspeisung einer bis zu fünffachen Leistung in das Testobjekt im Vergleich zu anderen Systemen. Die 6 1/2-stellige Messtechnik im Modell 2657A ermöglicht Strommessungen bis zu einer Messauflösung von 1fA (Femtoampere), so dass auch der Leckstrom von verschiedenen Leistungshalbleitern gemessen werden kann.

Das Modell 2657A eignet sich für Hochspannungsanwendungen wie den Test von Leistungshalbleitern, Dioden, FETs und IGBTs sowie die Charakterisierung von neueren Materialien wie Galliumnitrid (GaN), Siliziumkarbid (SiC) und anderen Verbindungshalbleiter-Materialien und Bauteilen. Es kann zusätzlich auch für das Charakterisieren von sehr schnellen Einschwingvorgängen sowie Durchbruch- und Leckstromtests bei verschiedenen elektronischen Bauteilen bis 3000 V verwendet werden.

Wie alle Geräte der Serie besitzt das Modell eine flexible Vierquadranten-Spannungs- und Stromquelle/Last mit genauen Volt- und Amperemetern. Es kombiniert die Funktionalität von Halbleiter-Charakterisierungssystem, Präzisionsstromversorgung, Stromquelle, 6-1/2-stelliges DMM, Arbitrary Waveform Generator, U- und I-Pulsgenerator sowie elektronische Last und Trigger-Controller. Mit der TSP-Link-Technologie lässt es sich auf ein voll synchronisiertes mehrkanaliges System erweitern.

Das Modell liefert bis zu 180 W DC-Leistung als Quelle oder Senke (±3000 V bei 20 mA, ±1500 V bei 120 mA). Die Auflösung beträgt 1 fA, was schnelle und genaue Sub-Picoampere-Messungen bei einer Einspeisung von bis zu 3000 V ermöglicht. Unterstützt werden digitalisierende und integrierende Messungen zur Charakterisierung von kurzzeitigen Ereignissen und konstanten Verhaltens, wie sich schnell ändernde thermische Effekte.