Achtzehn programmierbare Sortierungskategorien, bis zu zwei „Tape & Real“ Ausgänge und 16 „Bulk Bins“ erlauben eine einfache Integration der IC Test-Handler in bestehende Produktionsabläufe. Den Anwendern stehen u. a. Rüstsätze für die Bausteintypen SOT-23, SOT 223, SOT-89, SC-59, MLFTM, „hip-Scale-Packages“ sowie für weitere Gehäusetypen zur Verfügung.


Die Systeme bieten eine optische Überprüfung der Koplanarität der Bausteinpins (True & Implied coplanarity), eine Mark-Inspection sowie die Prüfung der richtigen Lage der Bausteine im Tape und garantieren somit eine hohe Qualität der Bauteile.


Mit 12.000 Bausteinen pro Stunde (Zero Test Time) und einer Indexzeit von 300 ms helfen IC Test-Handler der Serie 5800 die Testvolumen der Anwender effizient zu bewältigen.