Mit einer Integration der Embedded JTAG Solutions von Göpel Electronic lässt sich der Prüfumfang der In-Circuit-Tester TSi-052 von Teradyne erhöhen. Durch parallele Prozessabläufe reduzieren sich die Testzeiten. Die Kombination der Testtechnologien eignet sich insbesondere für hochvolumige Produktionen komplexer elektrischer Baugruppen, so zum Beispiel im Automotivebereich.
Die Systemintegration ermöglicht es dem Anwender, nach dem In-Circuit-Test (ICT) Baugruppen über verschiedene Interfaces zu testen und zu programmieren. Dabei stehen die Programmierung und die Inbetriebnahme der Aurix-Mikocontrollerfamile von Infineon Technologies sowie die Mikroprozessoren von Renesas im Fokus. Mittels Embedded-Technologien und Parallelisierung lassen sich die Taktzeiten verkürzen. Die Hardware für die Integration besteht aus einem Scanflex-Controller. Mit einer separaten Pylon-Schnittstelle werden acht differenzielle TAPs (Test Access Port) in den Adapterbereich geführt. Die Teradyne-Software Navigate ruft über den Testplan die Embedded JTAG-Solutions-Software System-Cascon auf und bindet die Testergebnisse in das Produktionsfenster ein.

Wichtige Qualitätssicherung

Mit der Qualitätssicherung kann nicht früh genug begonnen werden. Deshalb bietet Göpel Electronic bereits vom Chip-Design im Labor über die Fertigung in der Linie bis hin zum komplettierten Endprodukt fortschrittlichste Lösungen an. Steigende Baugruppenkomplexität und sinkende Zugriffsmöglichkeiten fordern verlässliche Technologien. Durch die breite Aufstellung gelingt es dem Hersteller, fundierte Qualitätssicherung in allen Bereichen der Elektronikfertigung anzubieten. So eröffnet Embedded-JTAG-Solutions den Weg für verlässliche Prüf- und Programmierverfahren modernster Elektronik, während gleichzeitig mit der Maschinensoftware Pilot-Inspect an der intuitiven Bedienung der Systeme gearbeitet wird. Das Touch-Bedienkonzept im App-Stil erlaubt eine strukturierte Darstellung der wichtigsten Informationen.

Die Kombination der Testtechnologien eignet sich  für die Produktion komplexer elektrischer Baugruppen.

Die Kombination der Testtechnologien eignet sich für die Produktion komplexer elektrischer Baugruppen. Göpel Electronic

Einheitliche Steuerung verschiedener Inspektionssysteme

Göpel Electronic stellte zudem auch die Maschinensoftware Pilot-Inspect zur einheitlichen Bedienung der Inspektionssysteme vor. Das Touch-Bedienkonzept im App-Stil sorgt für eine intuitive Handhabung sowie übersichtliche und strukturierte Darstellung der wichtigsten Informationen. Der Bediener kann mittels integrierter Informationstexte und Video-Tutorials schon nach kurzer Einarbeitung ohne besondere Vorkenntnisse die Maschine bedienen und Prüfprogramme ausführen. Die App ist sowohl auf dem Maschinen-PC als für mobile Endgeräte geeignet. Die Software basiert auf verschiedenen Inspektion-, Fehlerstatistik-, Kalibrierungs-, Maschinenzustand-Apps, deren Status live auf der Pilot-Inspect-Startseite angezeigt werden. Zahlreiche Hinweise und Informationen erleichtern die Fehlerdiagnose und reduzieren mögliche Stillstandszeiten der Maschine.

Die Maschinensoftware sorgt für eine einheitliche Bedienung der Inspektionssysteme.

Die Maschinensoftware sorgt für eine einheitliche Bedienung der Inspektionssysteme. Göpel Electronics

Darüber hinaus hat der Jenaer Hersteller die Verfügbarkeit der Chip-Vorx-Modellbibliotheken auf die FPGAs der MAX-10-FPGAs von Intel zur Unterstützung von Embedded-Test und Embedded-Programmierung erweitert. Chip-Vorx ist eine eigens entwickelte Technologie zur universellen Steuerung von Chip-Embedded-Instruments über den JTAG-Port. Die Modelle sind modulare IP, welche sämtliche relevanten Zugriffsinformationen des jeweiligen Ziel-FPGA enthalten und Teil einer umfassenden IP-Library sind. Anwender können im Rahmen einer Projektentwicklung zunächst den Ziel-FPGA auswählen und anschließend die gewünschte Test- oder Programmierfunktion aktivieren. Dazu gehören Flash-Programmierung (für parallele oder serielle NOR-Flash, inklusive FPGA Boot-Flash), RAM Access Test, universelle Frequenzmessung sowie Bit Error Rate Test (BERT).

Die Modellbibliotheken ermöglichen eine schnelle Systemadaption mit vereinheitlichtem Equipment für sämtliche Test- und Programmieraufgaben.

Die Modellbibliotheken ermöglichen eine schnelle Systemadaption mit vereinheitlichtem Equipment für sämtliche Test- und Programmieraufgaben. Göpel Electronics

Die Technologie ermöglicht dem Anwender die Realisierung des Embedded-System-Access (ESA). Die MAX-10-FPGAs von Intel basieren auf einer
55 nm Embedded-NOR-Flash-Technologie. Der Controller wird in verschiedenen Gehäuseformen und Größen mit bis zu 672 Pins geliefert und über das JTAG-Interface adaptiert. Durch designintegrierte Testelektronik entfallen Kontaktierungen der UUT über Nadeln oder Proben. Zudem ist ein Mix mit anderen non-intrusiven Verfahren wie Boundary-Scan oder Processor-Emulation problemlos auf einer Plattform möglich. Applikationseinstellungen für die Inhalte (einschließlich der Verbindung zwischen IP und Pin) erfolgen automatisch und ohne FPGA-Synthese. Parameter für Funktionen wie Bit Error Rate Test und Frequenzmessung sind interaktiv über Steuerpanels einstellbar und werden sofort wirksam. Die erwähnten Modellbibliotheken ermöglichen eine schnelle Systemadaption mit vereinheitlichtem Equipment für sämtliche Test- und Programmieraufgaben. Dabei verbessern sie die gesamte Prozesseffektivität, schützen Investitionen und sind gegenüber externen Testern deutlich preisgünstiger.