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Göpel Electronic

Durch das neue Mixed-Signal-I/O-Modul lassen sich beispielsweise auch Baugruppen testen, welche lediglich einen Boundary-Scan-fähigen IC haben. Pro Kanal verfügt das SFX-5296LX über diverse dynamische Testressourcen wie Frequenzzähler, Event-Detector, Arbitrary oder Digitizer. Mit insgesamt 96 Single-Ended-Kanälen wird der Boundary-Scan-Test auch auf nicht scanfähige Schaltungsteile wie Steckverbinder, Cluster oder Analog-Interfaces ausgedehnt. Zur Steigerung der Flexibilität ist jeder Kanal als Input, Output und Tri-State konfigurierbar und kann darüber hinaus in vielen Parametern programmiert werden. Dazu gehören schaltbare Pull Up, Pull Down oder wählbare Flankensteilheit der Treiber. Das Modul benutzt den parallelen SFX-I/O-Bus und ermöglicht daher wesentlich schnellere Datentransfers als die seriell per TAP angesteuerten I/O-Module. Aufgrund der pro Kanal verfügbaren Testressourcen sind sowohl statische als auch dynamische at-speed Tests realisierbar.