In Ergänzung zu bereits im Einsatz befindlichen Kamerasystemen ermöglicht das µ-SIS (Selektives Inspektions-System) von Weno eine Erkennung von Kanten- und Muschelausbrüchen, Rissen, Sägelinien, Mikrorisssen sowie Schichtabplatzungen und Verunreinigungen. Das System bietet die Möglichkeit der Darstellung einer Struktur- bzw. Mikroriss-Erkennung im Bereich von 1 µm. Die Software Ambis der Universität Münster realisiert dabei die Bildaufnahme, ohne den Mikroskoptisch bei der Bildaufnahme zu stoppen. Mit einem vorgelagerten Kamerasystem, z. B. mit einer Zeilenkamera, werden die verdächtigen Bereiche ermittelt und dann als Koordinaten an das Mikroskop übermittelt. Das Mikroskop kann dann über ein Achssystem (patentiert) gezielte selektive Bereiche inline inspizieren. Unterschiedliche Oberflächen werden dabei durch individuell entwickelte Beleuchtungskonzepte optimal sichtbar. Bildformate bis zu 400 GB und mehr sind durch den Arivis-Browser realisierbar – ein modulares Softwaresystem für Verwaltung, Visualisierung und Analyse. Sämtliche Funktionalitäten, die u. a. als 2D-Bild, als 3D-Bildstapel vorliegen, können auf normalen PCs verarbeitet werden (Option). Die Alfavis-Bildauswertungssoftware ermöglicht die Prozesskontrolle anhand von Esy-teach-Prüfmethoden für die Inline-Prüfung.

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