Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Testen in Forschung und Entwicklung sowie in der High-Mix-Low-Volume Bauteilefertigung optimiert.

Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Testen in Forschung und Entwicklung sowie in der High-Mix-Low-Volume Bauteilefertigung optimiert. Advantest

Das System von Advantest bietet eine breite Testabdeckung für die verschiedenen Module und SiP-Bauteile (System-in-Package). Durch seine modulare Architektur ist eine maximale Flexibilität möglich. So kann der Tester mit bis zu sechs diskreten luftgekühlten Messmodulen konfiguriert werden. Diese ermöglichen eine Testabdeckung von unterschiedlichsten multifunktionellen Bauteilen mit einem einzigen System. Es kann parallel digitale Funktions- und SCAN-Tests mit bis zu 512 Kanälen durchführen sowie Hochspannungsbauteile (bis zu 2.000 Volt), hochgenaue DC-Wandler, DC-Automobilbauteile, Mixed-Signal-ICs (mit einer Bandbreite von bis zu 100 MHz), Hochfrequenz-Kommunikationschips und CMOS-Bildsensoren prüfen. Der Tester lässt sich mit den Handlern der Serie M48xx kombinieren. Dies ermöglicht effiziente Zero-Footprint-Testzellenlösungen, die als Integrated Zero Test Station bezeichnet wird. Zudem ist die Softwareumgebung des Systems mit der hoch skalierbaren T2000 Serie kompatibel, welche das Durchführen von massiv-parallelen Tests ermöglicht. Dies erleichtert ein problemloses Hochfahren der Produktion, sodass Kunden die Markteinführungszeit für ihre neuesten Produkte reduzieren können.

Integrierte Zero-Test Station.

Integrierte Zero-Test Station. Advantest