V250-Desktop-Testsystem.

V250-Desktop-Testsystem.Ateip

Die Boardtester bieten hohe Leistungsfähigkeit beim Prüfen von Baugruppen mit sowohl herkömmlichen Standard-Komponenten als auch mit komplexeren PLDs, FPGAs, DSPs und Single-Chip-Mikrocontrollern. Die Systeme sind rasch und einfach anwendbar. Auch komplexe Funktionsprüfungen lassen sich mit der implementierten Funktion Card-Edge-Test unter Verwendung virtueller Boundary-Scan- sowie der am Board tatsächlich vorhandenen Pins durchführen.

Zur Fehlersuche sind dabei Software-Tools zum Backtracking und für Signaturscan vorhanden. Ein Fault Coverage Analyzer überprüft die Qualität der realisierten Tests.

In-Circuit-test

In-Circuit-Prüfungen werden wie üblich per Nadelbettadapter vorgenommen, natürlich sind auch Clusterprüfungen möglich. Viele der aktuellen komplexen Leiterplattenentwürfe weisen immer weniger Testpunkte auf. Die funktionelle Kontrolle der Schaltungen fokussiert sich daher immer mehr auf den so genannten Clustertest, der einem lokal begrenzten echten Funktionstest gleicht. Allerdings werden dafür weniger aktive Kanäle benötigt, denn damit überprüft man jeweils einzelne Funktionsabschnitte (Cluster) einer Baugruppe.

Für jeden Pin ist dabei allerdings – in Relation zum einfachen In-Circuit-Tester – volle Funktionalität in den hier relevanten Digital-, Analog- und Mixed-Signal-Eigenschaften für die entsprechenden Schaltungsbereiche gefordert. Diesen Funktionsumfang offeriert die Qmax-Plattform bereits in Basis-Kombinationen. Dabei sind sie in jede Richtung für spezifische Prüfaufgaben erweiterbar, beispielsweise mit PXI-Rack und Boundary-Scan usw.

Systemvarianten

Die Einstiegssystemplattform Qmax V250 ist als kompakter Desktoptester konzipiert und kann immerhin bis zu maximal 256 vollhybriden Pins ausgebaut werden. Bei der Systemplattform Qmax V2200 hingegen handelt es sich trotz geringer Abmessungen im 19-Zoll-Format um eine sehr ausbaufähige Midrange-Version mit Zugriff auf eine größere Zahl von Optionen. Beide Testerplattformen arbeiten prinzipiell mit der gleichen Systemsoftware und fallweise identischer Hardware. Über eine Reihe verschiedener Optionen lassen sich diese Systeme flexibel erweitern, dazu gehört beispielsweise auch die komplexe Messung der Flankensteilheit digitaler Signale. Abhängig vom Ausbau in Pinzahl und Instrumentierung überstreichen diese Lösungen den Investitionsbereich von typisch ca. 19.000 bis 80.000 Euro.

Am unteren Teil dieser Investitionsskala findet sich die Konfiguration V200/V250 mit 64/64 analog/digitalen Kanälen, im oberen Bereich die Plattform V2200 mit 256/256 analog/digitalen Kanälen. Die Einstiegsversion V250 kann mit seiner Basis-Timingeinheit (40 ns) Testpattern bis maximal 25 MHz erzeugen und anlegen. Analogtests lassen sich bis 10 MHz mit einer Samplingrate von 25 MHz ausführen. Hinter jedem Digitalpin sitzt ein RAM mit 256k x 8, jeder Analogkanal (14-bit DAC) hält ein RAM-Backup von 256k x 28 vor. Es sind bereits alle nötigen Stromversorgungen zur Grundversorgung der Prüfobjekte integriert: +3,3V/10A, +5V/10A, -5V/10A, +15V/8A, -15V/8A und 2 programmierbare Quellen von 0V bis 36V/6A.

Die mit noch mehr Optionen ausbaufähige Plattform V2200 ist ebenfalls ein kompaktes System, dessen Basiskonfiguration 48 High-Current-Pins umfasst (sinnvoller Einstieg mit 96+96 Kanälen) und bei Bedarf bis 320/320 analog/digitale Kanäle ausgebaut werden kann, in der Summe also 640 Kanäle. Eine PMU (hochgenaue parametrische Messeinheit) ermöglicht die Prüfung von DC-Eigenschaften der Bausteine.

Maximal-Konfiguration

Die maximale System-Konfiguration des V2200 zeichnet sich durch folgende Funktionen und Charakteristiken aus: PCI oder USB-Interface, 320 U/I-Kanäle für Signatur-Tests, 320 Kanäle für In-Circuit/Funktionstests und Prüfungen über die üblichen Board-Steckverbindungen, zusätzlich 4 frei multiplexbare Analogkanäle, 8-Slot PXI Chassis, 36 V/6A programmierbares Power-Supply, hochqualitative VPC-Steckverbindungsleiste (vom bewährten Top-Hersteller Virginia Panel) zum Anschluss des Prüfobjekts/Testadapters. Als wichtige Optionen sind verfügbar: Circuit Tracing, IDDE (Integrated Device Description Environment Package), Boundary Scan Test Software (JTAG, IEEE1149.1) sowie Bus-Cycle-Signature System Software.

Unter anderem steht bei der menügeführten Programmgenerierung zur Unterstützung der Schaltungsverifikation eine Bibliothek von derzeit circa 34.000 unterschiedlichen Baustein-Modellen zur Verfügung, die laufend ergänzt wird. Die IC-Modelle sind programmiert in den Beschreibungssprachen VHDL (Very High Speed Integrated Circuit Hardware Description Language) sowie im QDDL-Code (Qmax Device Description Language).

Anwender können jederzeit an den Modellen spezifische Anpassungen oder Änderungen vornehmen, womit die Einrichtung einer kundenspezifischen IC-Bibliothek unterstützt wird. Mit dieser Ausstattung der Plattform sind die Anwender zudem in der Lage, bei Bedarf in ihrem Wareneingang Chips und Halbleiter rasch per Clip zu überprüfen.

Eine zentrale Rolle in den Testern nimmt natürlich die Software ein. Das Programmpaket Testdirektor6 mit Interactive-Workstation weist grafische und Menü-Darstellungen der Prozeduren auf. Es verfügt über eine ganze Reihe von Funktionen und Programmmodulen, die sowohl effizient die Erzeugung und das Debugging der Prüfprogramme unterstützen als auch die Anwendung des Systems benutzerfreundlich gestalten.

Dazu gehören beispielsweise auch ein Datenformat-Support oder ein Test-Sequenzer, mit dem sich auf externe Ereignisse synchronisieren lässt und somit die Prüfung von komplexen Mikroprozessoren unterstützt wird.

Die Software unterstützt natürlich auch die Optionen Boundary-Scan und Bus-Cycle-Signature-System. Die Anwender können damit Prüfprogramme selbst für sehr komplexe Boards mit ASICs, DSPs und Mikroprozessoren und anderen Komponenten rasch entwickeln und debuggen.

Über Ateip

Ateip ist ein neu gegründetes Spezialunternehmen mit dem Fokus auf Beratung, Support und Vertrieb von automatischen Testsystemen für hochvolumige Produktion, Kleinserienfertigung sowie Labor/Entwicklung und verwandte Applikationsgebiete. Gründer und Geschäftsführer Frank Grossmann kann eine dreißigjährige qualifizierte Tätigkeit als Experte sowohl im Baugruppentest als auch in der Halbleiterprüfung vorweisen. Der Startup hat Exklusivverträge über Beratung, Support und Vertrieb mit innovativen Systemlieferanten, die ATE-Lösungen mit gutem Preis-Leistungs-Verhältnis offerieren, darunter Aspect, VXI Instruments, Qmax und weitere Solutionsprovider.