Doug Hunter: LatticeECP3 weist unter den FPGAs mit SERDES-Fähigkeiten die bei weitem niedrigste Verlustleistungsaufnahme auf.

Doug Hunter: LatticeECP3 weist unter den FPGAs mit SERDES-Fähigkeiten die bei weitem niedrigste Verlustleistungsaufnahme auf.

Mit der 65-nm-Familie LatticeECP3 kündigt Lattice die ersten 5 Bausteintypen seiner dritten FPGA-Generation an. „Die bereits in Stückzahlen lieferbaren ICs der Serie LatticeECP3 weisen unter den FPGAs mit SERDES-Fähigkeiten die bei weitem niedrigste Verlustleistungsaufnahme auf“, konstatiert Douglas Hunter, Director Corporate Marketing bei Lattice Semiconductor. „Außerdem liefern wir damit die günstigsten FPGAs mit SERDES-Funktionalität. Wir können somit erstmals sagen, dass wir mit unseren Produkten absolut führend sind.“

ECP3 ist im mittleren Leistungsbereich angesiedelt, bietet Multi-Protokoll-3.2G-SERDES mit XAUI-Jitter-Werten, eine DDR3-Schnittstelle, bis zu 6,8 Mbit Speicher, diverse DSP-Funktionen sowie zwischen 17.000 und 149.000 LUTs (Lookup-Table) mit bis zu 586 anwenderspezifischen LVDS-fähigen I/Os – „und all dies bei halber Verlustleistung und zum halben Preis von SERDES-fähigen FPGAs des Wettbewerbs“, so Douglas Hunter.

Lattice ist nämlich in der Lage, die FPGAs trotz SERDES-Elementen in Wire-Bond-Gehäusen unterzubringen und dennoch die erforderliche Signalintegrität zu erzielen. Hierdurch ergeben sich im Vergleich zu den sonst üblichen Flipchip-Gehäusen entsprechende Kostenvorteile.

Die 3,2-Gbit/s-SERDES-Elemente mit 10 GbE-XAUI-Jitter-Kompatibilität ermöglichen es, mehrere Protokolle beliebig auf jedem SERDES-Quad zu mischen. Dies schließt PCI Express, CPRI, OBSAI, XAUI, Serial RapidIO und Gigabit Ethernet ein. Die kaskadierbaren DSP-Slices ermöglichen jeweils bis zu 36×36-MACs, die mit 500 MHz arbeiten.

Die LatticeECP3-FPGA-Familie wird von den Entwicklungswerkzeugen der neuen Version 7.2 Service Pack 1 der ispLEVER-Suite unterstützt. Der darin enthaltene Power-Calculator ermittelt die typische Verlustleistungsaufnahme sowie die Verlustleistungsaufnahme unter Worst-Case-Bedingungen – und zwar auf Basis von tatsächlich am Silizium durchgeführten Messungen. (av)