Zum 11. Mal finden in diesem Jahr die DATE (Design Automation and Test Equipment) statt. Nach einem Ausflug nach Nizza im vergangenen Jahr ist sie diesmal wieder in München und zwar vom 10. bis 14. März im ICM des Münchner Messegeländes in Riem.

Das europäische Pendant zur US-amerikanischen DAC sieht den Schwerpunkt im Systemdesign von der Software zur Hardware. Auf der Messe sind wieder alle bedeutenden Unternehmen mit ihren wichtigsten CAE-Tools vertreten. Das Konferenz-Programm wird durch die strategisch ausgerichteten Executive Management Sessions ergänzt, in denen es u.a. um Systemlevel-Design-Strategien geht, um den Status der 45 nm Halbleitertechnologien sowie um die Frage: IDM to Fab-Lite: Was ändert sich für Ihre EDA-Strategie?

Außerdem wird der Weg hin zu Designs in 32 nm und 22 nm diskutiert. Die Technik Sessions befassen sich z.B. mit den Testherausforderungen für Low Power ICs, mit der Analogtechnik (wie kann sie in der Nano-CMOS-Ära überleben?), sowie 3D-Integration im 21. Jahrhundert. Zahlreiche Tutorials vermitteln Grundlagen, z.B. über Software für Wireless Netze in Embedded Systemen sowie über die gemeinsamen europäischen Innitiativen Artemis und Eniac.

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