Microcontact bietet mit dem Handprüfgerät MCit ein neuaritges Testsystem an, welches das qualitative Kontaktieren auf 200 µm große Testpunkte ermöglicht. Über ein Kamerasystem wird die Lage der Leiterplatte in X, Y und Theta korrigiert und so eine optimale Position unter der Kontaktierung gewährleistet.

Zum Kontaktieren wird ein MC Inline-Starrnadeladapter eingesetzt, mit welchem bestückte und unbestückte Substrate kontaktiert werden können. Die 4″ x 4″- und 8″ x 8″-Versionen vom Mcit ermöglichen so ein effizientes und qualitatives Prüfen von Substraten mit feinsten Teststrukturen. 

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