Die Plattform besteht aus einer patentierten Software, welche die Standard-Messgeräteausrüstung der Industrie optimiert und Messergebnisse schneller verfügbar macht. Zum Beispiel kann das Testen von Dual-Band-Leistungsverstärkern (PAs) auf einem typischen ATE-Tester bis zu 1,8 Sekunden dauern. Mit der von Amkor entwickelten neuen Testplattform können PAs in 470 ms getestet werden.


Rauscharme Verstärker (LNA), deren Test auf einem typischen ATE-Tester normalerweise bis zu 1,3 Sekunden dauert, können in 170 ms getestet werden. Zusätzlich zur reduzierten Testzeit liegen die Kapitalkosten für das neue System bedeutend niedriger als für heute verfügbare Lösungen der Wettbewerber. „Wir haben uns verpflichtet, unseren Kunden die geringstmöglichen Testkosten anzubieten, und dieses System erfüllt diese Verpflichtung für diese sehr kostenintensiven Komponenten auf aufsehenerregende Weise. In einigen Fällen kann die Kombination von kürzeren Testzeiten und niedrigeren Kapitalkosten zur Reduzierung des Testpreises um 80 Prozent oder mehr führen,“ sagte Joe Holt, Vice President von Amkor‘s Worlwide Test Services Group.


Amkor wird das System ausschließlich zum Testen der Produkte seiner Kunden einsetzen. Dieses Testsystem wird nicht kommerziell produziert und verkauft werden. Zusätzlich zum Testen von LNAs und PAs ist diese neue Testplattform auch ideal für das Testen von großen Stückzahlen von Mischern, HF-Schaltern, PLLs und VCOs. Industrieanalyst IC Insights, Inc. geht davon aus, dass sich der Markt für sämtliche Komponenten im Segment der drahtlosen und mobilen Kommunikation, einschließlich Basisstationen und Switches, bis zum Jahre 2004 nahezu verdoppeln wird (2001: 32,7 Mrd., 2004: 60,3 Mrd. US $).