Noffz Technologies erhielt zusammen mit Harman während der NI VIP Days 2015 den Best Paper Award/Technical Innovation & Engineering Impact Award 2015 für den UTP-9010-RF-EOL-Tester.

Noffz Technologies erhielt zusammen mit Harman während der NI VIP Days 2015 den Best Paper Award/Technical Innovation & Engineering Impact Award 2015 für den UTP-9010-RF-EOL-Tester.

Ein weiterer Standort in China wird Anfang 2016 eröffnet und eine Niederlassung in Mexiko  ist konkret in Planung. Im Oktober 2015 konnte Noffz den Ausbau der neuen Fertigungshalle am Hauptstandort Tönisvorst bei Düsseldorf abschließen und die umfangreiche Fertigungsfläche in Betrieb nehmen. „Durch diese Maßnahmen sind wir nun in der Lage, auch sehr umfangreiche Großprojekte im Bereich UTP-RF-Tester und Anlagen für Internet of Things und Automotive-Produkte erfolgreich zum Abschluss zu bringen“, erläutert Markus Solbach, Geschäftsführender Gesellschafter von Noffz, der sich zudem über den diesjährigen NI Engineering Award freuen kann. Auf der diesjährigen NI Week in Austin (Texas, USA) präsentierte Noffz während einer Keynote gemeinsam mit Harman neuartige Testerlösungen für eCall and Infotainment. Das gemeinsame Projekt von National Instruments durch den Award in höhere Weihen gehoben.