Die Firma stellt die optische Schaltkarte Modell 7090 vor, die eine Verschaltung von optischen sowie DC- und HF-Signalen in einem Instrument möglich macht. Beim Einsatz in der bereits existierenden Schaltplattform 7001/7002 ermöglicht das Modell 7090 den Herstellern von Laserdioden und anderen optoelektronischen Bauteilen eine effizientere Automatisierung von Testanwendungen. Es erlaubt eine rasche und einfache Verschaltung von optischen Signalen zwischen mehreren Instrumenten, einem einzelnen Instrument und mehreren Bauteilen oder einer Kombination hieraus.


Testsysteme, die optische Schalter mit anderen Instrumenten, wie dem L-I-V-Testsystem, einem gepulstem Lasertestsystem, einem Multimeter oder Quellen, kombinieren, verfügen damit über umfassende Schaltmöglichkeiten für die nahtlose Übertragung von optischen sowie DC- und HF-Signalen. Zu den Vorteilen einer echten optischen Verschaltung in optoelektronischen Testanwendungen gehören eine effektivere Automatisierung, ein schnellerer Testablauf, weniger Zeitaufwand für die Integration und eine kürzere Amortisationszeit (ROI) der bestehenden Testinstrumente.


Optische Schalter werden für die Kanalüberwachung von optoelektronischen Bauteilen benutzt, die unentbehrlich für den Aufbau von faseroptischen Netzwerken in der Telekommunikation und in ähnlichen Anwendungen sind:



  • Laserdioden

  • Fotodioden

  • Optische Add/Drop-Multiplexer (OADM)

  • LEDs und OLEDs

  •  VCSEL-Arrays

Das optische Schaltsystern eröffnet jetzt den Testsystemen auch die Möglichkeit, Lichtsignale zwischen mehreren optischen Ein- und Ausgangskanälen zu verschalten. Diese Möglichkeit erlaubt es optische Messprozesse in elektrische Tests zu integrieren und mit einem Minimum an Beteiligung durch den Bediener vollständig und konsistent zu automatisieren. Da die Hersteller den Produktionstest optischer Bauteile zunehmend effizienter gestalten, wird die optische Verschaltung immer wichtiger. Schaltmöglichkeiten Das Modell ist als 1 x4 oder 1 x8 Schaltkonfiguration verfügbar. Hierdurch können Systeme, die bis zu 4 oder 8 Prüfobjekte oder Instrumente beinhalten oder über kaskadierte Schalter auch eine größere Anzahl von Geräten umfassen, aufgebaut werden.


Die Schaltkarten sind kompatibel mit dem GPIB-gesteuerten Schaltgrundsystern Modell 700X, das bis zu 10 Schaltkarten aufnehmen kann. Mit DC- und HF-Schaltkarten und dem Grundsystem lassen sich komplexe Schaltlösungen realisieren. Darüber hinaus kann dieses Grundsystem mit anderen Werkzeugen wie, Trigger-Link , kombiniert werden, wodurch größere Testsysteme möglich sind, die im Vergleich zu anderen Lösungen eine einfachere Integration und schnellere Synchronisation bieten. Beide Produkte sind verfügbar.