Mit der Software Quad-DPMO und mit tw-Express von Aster lassen sich Qualitätsdaten durch den Hersteller auslesen und Teststrategien optimieren.

Mit der Software Quad-DPMO und mit tw-Express von Aster lassen sich Qualitätsdaten durch den Hersteller auslesen und Teststrategien optimieren.Aster

Zu den größten Herausforderungen der Elektronikindustrie gehören derzeit PCB und System-Level-Fehlfunktionen, die oftmals nur sehr schwer oder gar nicht zu reproduzieren sind. Die von Aster entwickelte Software tw-Express analysiert Designdaten bereits in einer frühen Phase. Die Testlücken-Analyse reduziert die Schlupfrate durch die Kontrolle der Testabdeckung für Prüfstufen wie etwa AOI, AXI, BST, ICT, FPT und Funktionstest.

Die Software Quad-DPMO extrahiert die genaue DPMO-Rate einer Produktionslinie und optimiert die Testabdeckung dort, wo die höchste Fehlerrate auftritt. Die Algorithmen erlauben anspruchsvolle Teststrategien der Quad-Systemdatenbank oder alternativ eine zufriedenstellende Rückverfolgbarkeit durch Dritte und durch Reparaturdatenbanken.

Oftmals schicken Kunden Produkte mit NFF-Defekten als fehlerhaft oder als mit „Kinderkrankheiten“ behaftet zurück. Diese Fehler kann der Lieferant meist nicht reproduzieren, da die Kombination von Testlücken, Alterung und Umwelteinflüssen diese Fehler hervorrufen. Um den Ursprung eines NFF auf Platinen-Ebene zu verstehen, ist das Erfassen des Schadensspektrums gemessen an den DPMO (defects per million opportunities oder zu Deutsch Defekte pro einer Million Möglichkeiten) erforderlich. Eine gute Testabdeckung bildet die Grundlage für das Feststellen aller eventuellen Defekte.

Um Fehler bereits vor der Auslieferung an den Kunden sicher aufzudecken, sind Instrumente notwendig, die eine effiziente DfX-Rückmeldung zu jeder Phase des Produktzyklus erlauben – vom Design bis zur Auslieferung. Damit lassen sich ein besseres Verständnis der DPMO sicherstellen und bessere Produkte produzieren.