Das Testsystem KT-7200 Finn von Konrad Technologies stellt im Rahmen einer kompletten Familie von Halbleitertestern basierend auf Instrumenten im PXIFormfaktor die Standardlösung für den Test von RFID-Tags, RFID-Readers, Smartcards, schlüssellosen Zugangssysteme, Reifendrucksensoren usw. dar.

Es ist in der Lage, die Kommunikation sämtlicher Produkte der RFID Familie, mit allen für RFID relevanten ISOStandards zu testen (LF, HF, UHF, DC … 1 GHz). Hauptmerkmal der implementierten Lösung ist ein hochperformanter Test von bis zu 64 parallelen Prüflingen mit extrem kurzen Antwortzeiten in Echtzeit. Die Testzeiten bewegen sich, je nach Produkt, im zweistelligen Millisekundenbereich, bei vollem Ausbau der Parallelität.

Das Testsystem zeichnet sich durch langlebige Schnittstellen, Hochverfügbarkeit, hohe Prozesssicherheit und Messmittelfähigkeit im Produktionsumfeld aus. Eine äußerst komfortable Softwarearchitektur ermöglicht die schnelle Integration neuer Prüflinge und aller relevanter Protokoll- Parameter.