Durch eine Anbindung an die Cloud stehen die Ergebnisse der <a href="http://www.all-electronics.de/pruefsysteme-mit-cloud-anbindung" target="_blank">Prüfsysteme</a>
unternehmensweit zur Verfügung.

Durch eine Anbindung an die Cloud stehen die Ergebnisse unternehmensweit zur Verfügung. Berghof

Zukünftig werden die Prüfsysteme der PIA-Familie mit einer Testing-Cloud verbunden, um die Ergebnisse unternehmensweit zur Verfügung zu stellen. Bisher erhielt nur der Werker eine Meldung, ob das getestete Bauteil i.O. oder n.i.O. ist. Über die Cloud lassen sich außerdem zusätzliche Informationen über den Produktionsstatus anzeigen: So kann der Qualitätsmanager beispielsweise Fehlerquoten abrufen und der Produktionsmanager sieht, an wie vielen Tagen die Testanlage in Betrieb ist. Darüber hinaus sind Performance-Vergleiche zwischen Testanlagen in Produktionswerken weltweit möglich.

Zu den Einsatzgebieten der Prüfgeräte gehören: die Ansteuerung, Prüfung und Analyse sowie Bewertung der Funktionalität von Prüflingen im Labor-, Produktions- und Dauerlaufumfeld. Das System mit seinen vollautomatisierten Prüfzyklen lässt sich über ein kompaktes HMI oder per remote App bedienen.