Göpel electronic stellt mit PXI 5396-x eine neue Serie von JTAG-Digital-I/O-Modulen auf Basis des PXI–Bus vor. Die PXI5396-x bieten 96 individuell konfigurierbare Single-Ended-Kanäle und unterstützen sowohl den strukturellen JTAG/Boundary-Scan-Test als auch dynamische I/O-Operationen bis 100 MHz zur Ausführung von Funktionstests. Es handelt sich hierbei um 1-Slot-Module mit 3U, die sich durch die Tiefe des On-Board-Speichers von 72 MByte (PXI 5396) und 144 MByte (PXI 5396-XM) unterscheiden.

Alle Module bieten 96 als Input, Output oder Tri-State konfigurierbare Single-Ended-Kanäle, die auch simultanes Treiben und Messen sowie Echtzeitvergleich erlauben. Während die Signale im JTAG-Mode vollsynchron zu Testbusoperationen verarbeitet werden, ermöglicht der dynamische I/O-Mode funktionale Testung mit frei programmierbaren Taktfrequenzen im Bereich 500 Hz bis zu 100 MHz. Dadurch können zunächst strukturelle Boundary-Scan-Tests und anschließend Funktionstests mit dem gleichen Gerät ausgeführt werden.

Zur Kopplung der Module mit kommerziellen Interface Test Adaptern (ITA) stehen Standard-Kits z. B. für Virginia Panel Corporation optional zur Verfügung. Auf der Softwareseite werden die PXI 5396-x durch die Integrierte JTAG Boundary Scan Entwicklungsumgebung SYSTEM CASCON ab Version 4.4.1 vollständig unterstützt, wodurch der Anwender von zeitintensiven manuellen Aufbereitungen der Projektdaten befreit wird. Die Ansteuerung des Moduls selbst erfolgt über das standardisierte Vektorinterface HYSCAN, welches das simultane Handling von seriellen und parallelen Vektoren ermöglicht. Nach der Testausführung erfolgt im Fehlerfall eine entsprechende Fehlerdiagnose auf Pin- und Netzlevel, wobei der Fehlerort auch graphisch im Layout und Schematic visualisiert werden kann.

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