Das robuste Systemmikroskop Leica DM2500 M von Leica Microsystems vereint hohen Bedienkomfort und volle Leistungsfähigkeit für die industrielle Anwendung. Das solide Metallstativ fängt Schwingungen optimal ab, die in sich geschlossene Auflichtachse schützt ebenfalls vor Staubeintrag. Ergonomisches Design vermeidet Verspannungen der Hals-, Schulter- und Rückenmuskulatur – auch bei längerem Arbeiten.

Proben bis zu einer Größe von 100 mm x 100 mm wie Folien, Wafer oder PCBs und bis zu einer Dicke von 80 mm können begutachtet werden. Das umfangreiche Zubehörprogramm erlaubt sowohl klassische Anwendungen wie Hellfeld, Dunkelfeld sowie der differentielle Interferenzkontrast (DIC) zur kontrastreichen Abbildung geometrischer und physikalischer Phasenobjekte als auch Polarisations- und Fluoreszenzkontrast. Die farbliche Markierung der Objektive in Verbindung mit der Farbkodierung der Blendeneinstellung bietet komfortables Arbeiten.

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