Das 1 GHz SoC-Testsystem T6683


Für Tests mit höheren Geschwindigkeiten und mehr Pins präsentiert Advantest das System T6683. Es zeichnet sich durch eine Verbesserung der Standardausstattung und der Optionen aus, so dass der Anwender nahezu jeden heute angebotenen High-End-Baustein testen kann. Zusätzlich wurden auch die Mixed-Signal-Fähigkeiten des T6683 erweitert, um mit den Fortschritten im Bereich der SoC-Technologie Schritt halten zu können. Zum präzisen Testen von Mikroprozessoren und Mikrocontrollern, die eine zentrale Rolle in der modernen Telekommunikation spielen, sind die Systeme T6683 und T6682 mit der,Fly-By‘-Architektur von Advantest ausgestattet. Sie ermöglichen ein rasches Umschalten zwischen dem Eingeben von Daten in die I/O-Pins und dem Auslesen von Informationen aus diesen Pins. Zum Testen von ASICs mit einer sehr großen Anzahl Pins verfügt das T6683 ebenfalls über die schon vom T6682 gebotene Eigenschaft, jeden I/O-Pin unabhängig anzusteuern, so dass der Anwender Tests mit maximal 1.024 Eingangs- und 1.024 Ausgangs-Kanälen durchführen kann. Darüber hinaus bietet der T6683 einige Verbesserungen gegenüber dem T6682, wie einen aufgewerteten Pattern-Generator, höhere Genauigkeit und erweiterte Timing-Fähigkeiten zur Handhabung von Bauelementen mit mehreren, unterschiedlich schnellen Bussen. Um die hohen Ströme, die von modernen Mikroprozessoren mit ihren großen Datenraten benötigt werden, zu verarbeiten, hat Advantest außerdem eine Option für das T6683-System entwickelt, die die Stromversorgung mit bis zu 256 A ermöglicht, was im Vergleich zum Vorgängersystem eine Verbesserung um den Faktor vier bedeutet. Ebenfalls vom Anwender hinzugefügt werden kann eine schnelle, jitterarme Takt-Option.


Das 500 MHz SoC-Testsystern T6673


Mit seiner Fähigkeit zum gleichzeitigen Testen von maximal acht Bauelementen mit bis zu 500 MHz ermöglicht das für die Massenproduktion konzipierte System des Typs T6673 eine Senkung der Testkosten. Verglichen mit dem T6672 verfügt es ferner über eine aufgewertete Mixed-Signal-Test-Funktionalität. Zur weiteren Verringerung der Testkosten hat Advantest die Betriebszeit der internen CPU des T6673 verbessert und die Busgeschwindigkeit erhöht. Um das Spektrum der Mixed-Signal-Testfunktionen des T6673 zu erweitern, bietet Advantest eine Vielzahl von Optionen für analoge Tests. Zum Test von Basisband-Bausteinen für die nächste Mobiltelefon-Generation kann der Anwender beispielsweise eine durchsatzstarke Test-Option nachrüsten, die das gleichzeitige Prüfen von bis zu acht dieser Bausteine zulässt. Zum präzisen Prüfen von Bauelementen für Digital-Subscriber-Line-Applikationen stehen dem Anwender ferner ein optioneller Breitband-Videofrequenz-Digitalisierer (16 Bit, 200 MSPS) und ein entsprechender Generator (16 Bit, 250 MSPS) zur Verfügung. Für Produkte wie die nächste Generation von Massenspeicher-Bausteinen hat Advantest überdies einen 8-Bit-Generator zum Erzeugen beliebiger Wellenformen entwickelt. Dieser zeichnet sich mit 4 GSPS durch eine weltweit bisher unerreichte Abtastrate aus. Als weitere Option ist für das Testsystem T6673 eine Zeitmess-Einheit verfügbar, die der Anwender zum Messen einzelner Impulse bis zu 1,6 GBit/s mit einer Auflösung von 1,15 ps bzw. die fortlaufende Messung an bis zu acht Impulsen ohne Totzeit verwenden kann. Diese Funktion ist besonders nützlich zum Messen des Jitters in Computer-Buszyklen. Mit diesen Verbesserungen ermöglcht es das System T6673, den Zeitaufwand zum Testen von Basisband-Bausteinen für Mobiltelefone gegenüber dem Vorgängersystem auf die Hälfte zu reduzieren.