Das Speichertestsystem T5761/T5761ES für den Wafer- und Package-Test von NAND-Flash-Speichern von Advantest nutzt eine Tester-per-Site Architektur, die optimal für den Test von Flash-Speichern geeignet ist und maximale Leistungsfähigkeit auf jeder Stufe des NAND-Tests vom Wafer- bis zum Package-Test erreicht. Mit einer parallelen Testkapazität von bis zu 512 Bauteilen – doppelt so viel wie mit dem bisherigen Modell des Unternehmens – erzielt das neue System einen deutlich höheren Durchsatz.

Es zeichnet sich zudem durch eine speziell für NAND-Bauteile entwickelte Fehlerkorrekturfunktion (ECC) aus, mit der sich eine höhere Fertigungsausbeute erreichen lässt. Außerdem berechnet ein Echtzeit-Zähler die Anzahl der ausgefallenen Bits während des Tests. Die verbesserte Blockmanagementfähigkeit für NAND-Flash-Speicher ermöglicht das Überspringen nicht benötigter Blocks, ohne diese zu testen, wodurch sich die Testzeiten weiter reduzieren lassen. Durch die niedrigeren Kosten, die erweiterte Funktionalität und höchste Auslastung ist das T5761/T5761ES die optimale Fertigungslösung für die Hersteller von Flash-Speichern.

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