Termin: 30.08.2011 07:00 Uhr - 01.09.2011 15:15 Uhr
Stadt: Berlin
Veranstaltungsort: Estrel Convention Center
Veranstaltungsadresse: GE Sensing & Inspection Technologies GmbH, Niels-Bohr-Str. 7, D-31515 Wunstorf

Als Treffen der Anwender der Produktlinie Phoenix-Xray von GE Sensing & Inspection Technologies richtet sich die Veranstaltung an aktuelle und zukünftige Nutzer hochauflösender Micro- und Nanofocus-Röntgeninspektions- und 3D-Computertomographiesysteme in Wissenschaft und Wirtschaft, beispielsweise aus den Bereichen Lötstelleninspektion, Materialwissenschaften, Gussteilinspektion, 3D Metrologie oder Fehleranalyse.

Damit bietet sich die einzigartige Möglichkeit, die vielfältigen Lösungsmöglichkeiten, die moderne 2D- und 3D-Röntgentechnologie bieten, kennenzulernen. Die Referenten sind überwiegend Anwender von Phoenix-Xray-Systemen, die in praxis- und lösungsorientierten Vorträgen über die Anwendung dieser Technologie zur Lösung ihrer spezifischen Probleme berichten. Darüber hinaus wird es auch Informationen über die neusten Entwicklungen wie das neue 2D-Microfocus-Röntgensystem Phoenix Xaminer oder das neue GE-Konzept für schnelle Inline-CT großer Gussteile mittels modifizierter GE-Healthcare-Tomographen geben.