Termin: 31.03.2009 22:00 Uhr
Stadt: Radolfzell
Veranstaltungsadresse: National Instruments

Die Besucher erwarten in zwei parallelen Vortragsreihen Fachvorträge zu den Themen Funktionstest, In-Circuit-Test, Bildverarbeitung sowie zu Halbleiter- und HF-Test oder der Kombination dieser Anwendungsfelder. Der Technologietag hat den klaren Fokus, die Anwender über flexible, auf die Zukunft ausgerichtete Prüf- und Testtechnologien zu informieren. Eine besondere Rolle spielt auch der Einsatz der FPGA-Technologie, wie sie z. B. in den Flexrio-Karten von National Instruments zum Einsatz kommt. Parallel zu den Anwendervorträgen findet eine Fachausstellung statt, die den Besuchern die Gelegenheit bietet, sich detailliert mit den Experten und Fachleuten der Unternehmen über Technologien und Lösungen auszutauschen. Die Veranstaltung schließt mit einer Podiumsdiskussion, bei der gezielt Fragen zu den speziellen Fachthemen gestellt werden können.