Termin: 13.03.2013 07:30 Uhr - 14.03.2013 16:00 Uhr
Stadt: Amsterdam
Veranstaltungsort: Park Plaza Amsterdam Airport, Melbournestraat 1, 1175 RM Lijnden

Die Smart Systems Integration ist eine internationale Kommunikationsplattform für Industrie und Forschungsinstitute und dient dem Wissenstransfer zum Thema Smart-Systems-Integration. Die Veranstaltung schafft die Basis für erfolgreiche Forschungskooperationen mit Schwerpunkt Europa. Sie ist Teil der Aktivitäten von EPoSS, European Technology Platform on Smart Systems Integration, und kooperiert mit dem MEMS Executive Congress Europe, organisiert von der MEMS Industry Group

Auf der kongressbegleitenden Ausstellung präsentieren sich Forschungsinstitute, Hersteller, Zulieferer, Dienstleister sowie Komponenten- und Systemhersteller aus den Branchen Mikrosystem- und Nanotechnologie, Mikroelektronik und -mechanik, Sensorik und kabellose Kommunikationstechnologie.

Technologie

Durch Smart-Systems-Integration entsteht aus verschiedenen Einzelkomponenten ein System, das über Sensorik Informationen aus der Umwelt gewinnt, diese mittels Elektronik verarbeitet, Signale und Daten kommuniziert und aktive Rückmeldung an die Umgebung leisten kann. Zunehmende Komplexität und Interdisziplinarität stellen höchste Ansprüche an die Entwicklerteams, die sich auf den Gebieten Mikrosystem- und Nanotechnik, Optik, Fluidik, Biologie, Medizin, Elektronik und kabellose Kommunikationstechnik bewegen müssen. Der Kongress wie auch die begleitenden Ausstellung geben praxisnah einen umfassenden Überblick über aktuelle Entwicklungen, Anwendungen und Möglichkeiten sowie Trends und Visionen.

Kongressprogramm

Über 100 Referenten aus 21 Ländern präsentieren ihre aktuellen Forschungsergebnisse und praxisnahen Lösungen auf der Smart Systems Integration 2013 in Keynotes, Vorträgen und Postern.

Schwerpunktthemen:

  • 3D-Integration and system packaging
  • Manufacturing technologies for smart integrated systems
  • Smart medtech systems and systems for prognostics health management

Keynotes:

  • Carmelo Papa, EPoSS and STMicroelectronics, IT
  • Khalil Rouhana, European Commission, BE
  • Prof. Dr. Jaap den Toonder, Philips Research, NL
  • Michael Fink, Micro Systems Technologies, CH
  • Brian Wirth, GE Sensing & Inspection Technologies, US

Öffnungszeiten

Kongress:

  • Mittwoch, 13.03.2013: 08:30 – 18:15 Uhr 
  • Donnerstag, 14.03.2013: 09:00 – 17:00 Uhr

Ausstellung:

  • Mittwoch, 13.03.2013: 10:00 – 18:00 Uhr  
  • Donnerstag, 14.03.2013: 09:30 – 16:00 Uhr