Termin: 08.06.2011 06:30 Uhr - 08.06.2011 13:30 Uhr
Stadt: Chemnitz
Veranstaltungsort: Schloss Nossen
Veranstaltungsadresse: LXinstruments, Engmatec, dataTec

In immer kürzerer Zeit muss eine wachsende Vielfalt von Designs und Applikationen geprüft werden, da sich die Entwicklungszyklen zunehmend verkürzen. Neue Technologie wie beispielsweise ASICs und FPGAs ermöglichen außerdem die schnelle Realisierung einer kundenspezifischen Variantenvielfalt. Des Weiteren ist der Trend zur Vernetzung ungebrochen, sodass bei klassischem Elektronik-Design immer mehr Kommunikationsschnittstellen ergänzt werden.

Workshop-Themen:
1. Offene Test Plattform (OTP)
2. Testsoftware, Bedienerinterface, Datenbankanbingung
3. Kontaktierungen von komplexen Prüflingen bei verschiedenen Automatisierungs-graden und Teststrategien

Im Anschluss an die Workshops gibt es eine offene Runde, bei der die Experten aktuelle Fragen beantworten. Die Anzahl der Teilnehmer begrenzt. Die Teilnahme ist  kostenfrei.