Termin: 07.05.2018 09:15 Uhr - 08.05.2018 16:45 Uhr
Stadt: Altdorf bei Nürnberg
Veranstaltungsort: Fritz-Bauer-Str. 13, 90518 Altdorf b. Nürnberg
Veranstaltungsadresse: Technische Akademie Wuppertal e.V. (TAW)

Als Anwender elektronischer Geräte und Systeme erwarten Sie zu­ver­läs­sige Funktionalität im vorgegebenen Umfeld. Ent­wickel­te Sys­teme sind den Anforderungen im Einsatz ent­sprechend auszulegen und die Tauglichkeit nachzuweisen. Dies trifft so­wohl für Einzelkomponenten als auch für Bau­grup­pen zu.
In diesem Seminar werden praxisnahe Methoden und Strategien gezeigt, die Ihnen bei der Bewältigung dieser Aufgaben helfen.
Es werden die im praktizierten Zuverlässigkeits-Engineering ver­wendeten Zuverlässigkeitskenngrößen und Lebens­dauer­ver­teilungen erläutert und mit Übungen vertieft. Stresstests und ihre Auswirkungen werden ebenso dargestellt, wie mögliche Ablaufszenarien von Lebensdauertests und Um­welt­simulationstests. Darin eingebundensind die Raffungsgesetze und deren Limitierungen so wie diese für elektronische Systeme Anwendung finden.
Für entwickelte Systeme sind oft Prognosen über das zu erwartende Ausfallverhalten im Feld erforderlich. Mittels der MTBF / MTTF Ermittlung wird dieses Verfahren gezeigt. Werden mehrere Geräte zu einem komplexeren System zu­sam­men­ge­fügt, so ist nach Festlegung der Systemstruktur die Zu­ver­läs­sig­keit für das gesamte System zu ermitteln. Die dazugehörige Berechnung wird anhand von Serien-, Parallel- und Mischsystemen durchgeführt.
Anhand von Beispielen und eigenen Berechnungen vertiefen Sie die Theorie. Daher ist es erforderlich, dass Sie einen Taschen­rechner mit e-Funktion mitbringen.