Bild: National Instruments

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National Instruments stellt mit der PXI Semiconductor Suite insgesamt 10 neue Produkte vor, welche die PXI-Plattform speziell um Funktionen zum softwaredefinierten Test von Mixed-Signal-Halbleitern erweitern. Die Suite ist für den Einsatz mit der grafischen Systemdesignsoftware NI Labview optimiert und umfasst vier Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Module (HSDIO), zwei Schaltmodule für digitale Signale, zwei erweiterte 6,6-GHz-RF-Vektorsignalgeneratoren/-analysatoren (VSG/VSA), eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) sowie eine spezielle Software für den Import digitaler Vektordateien. Zahlreiche Funktionen, wie u. a. Digital-I/O-Operationen mit 200 MHz, eine Stromauflösung von 10 pA, schnelle Mehrband-RF-Messungen, automatisierte Schaltvorgänge zwischen DC und digitalen Systemen sowie die Möglichkeit, Daten aus Dateien der Formate Waveform Generation Language (WGL) und IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) zu importieren, sind integriert.

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