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Test Way Express gehört zur neuen Familie besonders bedienungsfreundlicher Testcoverage-Analysetools von Aster Technologies. Damit kann man eine unabhängige Testabdeckungs-Analyse des Leiterplattendesigns berechnen und die, durch eine Kombination verschiedenster Tester, erreichte Testabdeckung messen, die entweder durch ein einzelnes Testsystem oder eine Kombination verschiedener Systeme erzielt wird. Die Konfiguration erfolgt durch einfache Drag-and-Drop Auswahl aus der Test-Equipment-Liste. Test Way Express analysiert die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern.

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