TestWay-Express von Aster berechnet eine unabhängige Testabdeckungs-Analyse der PCB-Designs und erlaubt, durch eine Kombination verschiedenster Tester erreichte, Testabdeckung zu messen. Dabei analysiert es die Anzahl der bei jeder Teststufe innerhalb der gesamten Kette erkannten Fehler und identifiziert so Lücken in der Testabdeckung mit den zugehörigen unerkannten Fehlern. Überdies gibt es das Tool „QuadView-TPQR“, das dem Anwender erlaubt, die durch ein einzelnes Testsystem erzielte Testabdeckung zu berechnen. Mit Hilfe dieses Layout- und Schaltplan-Viewers kann die Test­abdeckung für ein beliebiges Test- oder Inspektionssystem sowohl auf Bauteil- als auch auf Anschluss­ebene visualisiert werden.