Advantest stellt drei Module für die SoC-Testplattform T6577 vor, die kostengünstige Lösungen für verschiedenartige Testanforderungen von komplexen SoC-Bauteilen ermöglichen. Diese beinhalten eine DDR2 Interface Test Option, eine Base Band Waveform Generator/Digitizer (BBWGD)-Option und eine Sinus-Generator (SG)/Jitter Messeinheit (JMM)-Option. Die neuen Optionen lassen sich einfach im Testkopf der T6577 installieren und erlauben eine Reduzierung der Testboard-Kosten, die ansonsten für die Fertigung und Wartung dieser komplexen Boards anfallen. Zudem kann durch die Module eine deutliche Verbesserung der Fertigungsausbeute erreicht werden.

Die DDR2 Interface Test-Option ermöglicht einen kostengünstigen Test von Speicherschnittstellen und einen AC-Test mit voller Geschwindigkeit. Die maximale Schreib-Testgeschwindigkeit beträgt 667 Mbps. Die BBWGD (Base Band Waveform Generator/Digitizer)-Option stellt zusätzlich Basisband- und analoge Testmöglichkeiten im Bereich von 100 MHz für die in Mobiltelefonen eingesetzten SoC-Bauteile zur Verfügung.

Ein Modul verfügt über Signalgeneratoren und Digitalumsetzter mit 16 Kanälen, so dass die Parallelität erhöht und eine Reduzierung der Testkosten um ungefähr 50 % gegenüber dem bisherigen Modell ermöglicht wird. Die SG (Sine Wave Generator)/JMM (Jitter Measurement Module)-Option testet die schnellen in der Unterhaltungselektronik und in anderen Produkten verwendeten AD-Wandler, die Sinus-Signale mit Geschwindigkeiten von bis zu 500 MHz erzeugen