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Neu bei LOT-Oriel sind die Probe-Stations von Janis Research. Dabei handelt sich um Testsysteme für elektrische Messungen an Wafern, Chips, Mems und ähnlichen Objekten. Die Möglichkeiten umfassen DC- und niederfrequente Messungen bis 20 MHz, sowie Mikrowellenmessungen bis 67 GHz. Daneben kann der Wafer über eine Faser auch optisch angeregt werden. Das Basissystem ist das ST-500: Temperaturbereich von 3 bis 475 K, Einsatz von flüssigem Helium oder Stickstoff, vibrationsarm, schnelles Abkühlen und Aufwärmen des Messobjekts, vier Halterungen für austauschbare Messfühler, vier XYZ-Verschiebetische zur µm-genauen Positionierung, Probengröße bis 52 mm.