Bauelemente-Tester

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Bauelemente-Tester".
Bild 1: Typischer Aufbau eines Messplatzes zur Charakterisierung von Halbleiter-Produkten auf der Wafer-Ebene von Keysight Technologies und Cascade Microtech.

Testgeräte + Prüfplätze-On-Wafer-Messungen

Schlüsselfertige Messplätze – schnell aufgebaut, konfiguriert und betriebsbereit

18.07.2016Die Entwicklungszyklen in der Halbleitertechnik werden zunehmend kürzer und die Anforderungen an die Messgenauigkeit in der Produktentwicklung und Produktionskontrolle steigen. Der zeitliche Aufwand zum Aufbau und zur Konfiguration eines entsprechenden Mess-Systems ist daher ein wesentlicher Faktor für die Time-to-Market neuer Chip-Produkte. Keysight Technologies und Cascade Microtech haben dafür gemeinsam eine verhältnismäßig schnelle Lösung entwickelt. mehr...

Die Testsockel sind vielseitig einsetzbar und eignen sich für verschiedene Gehäusetypen.

Gehäuse + Schaltschränke-Halb kundenspezifisch zu Standardkosten

IC-Testsockel für unterschiedliche Gehäusetypen

07.04.2016Elektronikhersteller verwenden viele unterschiedliche Gehäuselösungen und das zwingt Komponentenhersteller oft, für den Test ihrer Bauelemente nach kundenspezifischen Lösungen zu suchen. Zur Lösung dieses Problems hat Yamaichi Electronics eine Reihe von Universaltestsockel entwickelt, die so zuverlässig wie kundenspezifische sind. mehr...

54004.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Kleine Rastermaße möglich

Kopf in Waffelform

07.04.2014Mit dem Kurzhubstift F704 erweitert Feinmetall das Portfolio an Batterie- und Ladekontakten. Der Stift eignet sich sehr gut für die Kontaktierung von Kontaktflächen, bei denen es auf eine sehr hohe Treffsicherheit ankommt. mehr...

48567.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Aeroflex präsentiert 5860 Multi-Strategy-Testsystem

Mit Virginia Panel Interface

28.11.2012Bei der multifunktionalen Testsysteme-Serie 5860 ist nun auch das Virginia-Panel-Interface integriert. mehr...

45856.jpg

Baugruppenfertigung-Entwicklung, Debugging, Test

JTAG eröffnet immer neue Wege

24.04.2012Die JTAG-Schnittstelle und Logik bietet in der Entwicklung, Produktion und Reparatur — auch im Feld — der heutigen Elektronikgeräte vielfältige Vorteile. mehr...

Markenbezeichnung Advantest

Advantest schließt Integration von Verigy ab

10.04.2012Advantest Corporation meldet den erfolgreichen Abschluss der Integration der im Juli 2011 übernommen Verigy Ltd. Inzwischen wurden alle rechtlichen Einheiten des bislang als hundertprozentige Tochtergesellschaft operierenden ATE-Unternehmens in die Unternehmensstruktur von Advantest eingegliedert. mehr...

43950.jpg

Baugruppenfertigung-Digitale SMU-Funktion

PXI-gestützter Halbleitertest

07.11.2011National Instruments stellt PXI-Express-Module vor, die die Halbleitertestfunktionen der PXI-Plattform erweitern: ein Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Modul mit 24 Kanälen und einer Per-Pin-Parametric-Measurement-Unit sowie zwei Source-Measure-Units mit vier Kanälen. mehr...

43916.jpg

Baugruppenfertigung-Boundary-Scan-Tool

Für Debugging und Reparatur

04.11.2011JTAG Technologies stellt mit Auto Buzz die neuste Erweiterung für die ohne Netzliste auskommenden JTAG-Boundary-Scan-Test- und Debug-Werkzeuge vor. mehr...

43897.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-DfT-Lösungen

Design-to-Test

02.11.2011Aster Technologies, Anbieter von Testability- und Testcoverage-Analyse-Tools auf Leiterplattenebene, hat seine Analysewerkzeuge Testway, Testway Express, DfT und Test Coverage um ein Tool mit Design-to-Test-Features erweitert. mehr...

43820.jpg

PMD Technologies testet mit Dr. Eschke

Test von PMD-Sensoren

28.10.2011Für den Endtest von PMD-Sensoren hat sich PMD Technologies für Testsysteme von Dr. Eschke entschieden, geht es doch um Produkte, die ohne Rechenaufwand neben üblichen Helligkeitsinformationen auch die gewünschten Abstandsinformationen zum Objekt liefern und deshalb momentan sehr gefragt sind. mehr...

43560.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Halbleiter-Testsystem auf PXI-Basis

Für SoC und SiP

21.10.2011Als Vertriebspartner des PXI-Spezialisten Geotest Marvin Test Systems bietet Prüftechnik Schneider & Koch PXI-Systeme und -Module unterschiedlichster Art und Konfiguration an. mehr...

43341.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Digital-I/O-Modul auf PXI-Basis

Für signalkritische Applikationen

12.10.2011Göpel Electronic gibt unter dem Namen PXI5396-DT/x die Markteinführung von zwei weiteren JTAG-Digital-I/O-Modulen auf PXI-Basis bekannt. mehr...

43830.jpg

Baugruppenfertigung-Für Digital und Mixed-Signal

PXI-Halbleitertestsystem

02.10.2011Die kostengünstige, konfigurierbare Testlösung TS-900 bietet Leistungsmerkmale vergleichbar denen proprietärer ATE-Systeme. mehr...

43329.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Leistungselektronik automatisch prüfen

Bis in höchste Strom- und Spannungswerte

01.10.2011Die Familie der Leistungselektroniktestsysteme MT von Crea im Vertrieb bei ATEip umfasst mit fünf unterschiedlich ausgerichteten Modellen alle relevanten Anwendungsbereiche. mehr...

43158.jpg

Baugruppenfertigung-Mit Grips zu Chips

IC-Test beim Chip-Designer

07.09.2011Creative Chips versteht sich als Fabless-Semiconductor-Vendor und verfügt über langjährige Erfahrungen bei der Entwicklung anwendungsspezifischer Mixed-Signal-ASICs. Produziert wird bei einem entsprechend ausgestatteten Dienstleister. Speziell für den finalen Test vor der Auslieferung hat sich das Binger Unternehmen für die Testsysteme der Dr. Eschke Elektronik entschieden. mehr...

Baugruppenfertigung-Fertigungskapazitäten ausgebaut

Advantest fertigt Test-Handler in Südkorea

15.07.2011Advantest Corporation meldet, dass die südkoreanische Tochtergesellschaft, Advantest Korea Co., Ltd., den ersten in der Fabrik in Cheonan hergestellten dynamischen Test-Handler M6242 ausgeliefert hat. mehr...

Baugruppenfertigung-Aktienkauf abgeschlossen

Advantest hat Verigy übernommen

13.07.2011Advantest Corporation (TSE: 6857, NYSE: ATE) meldet, dass alle Voraussetzungen für die Übernahme von Verigy (NASDAQ: VRGY), einschließlich der Genehmigung der Behörden und der Zustimmung der Aktionäre von Verigy erfüllt sind. mehr...

41689.jpg

Baugruppenfertigung-Fit die mobile Zukunft

Testequipment für E-Fahrzeug-Komponenten

12.04.2011Die mobile Zukunft hat begonnen und schon bald werden Elektrofahrzeuge als leistungsfähige Alternative ganz gewohnt zum Straßenbild gehören. Bei der Produktion von Elektrofahrzeugen sind selbstverständlich Qualität und Zuverlässigkeit ebenso gefragt wie Flexibilität und Wirtschaftlichkeit. Dies erfüllt IPTE Factory Automation (FA) als Spezialist für Testlösungen in der Elektronikproduktion seit mehr als 15 Jahren. mehr...

41264.jpg

Baugruppenfertigung-Extrem handlicher BS-Controller

Boundary Scan Controller im Miniformat

13.03.2011PicoTAP bezeichnet Göpel einen sehr kompakten Boundary Scan Controllers mit Single-TAP-Interface bekannt. mehr...

13606.jpg

Testgeräte + Prüfplätze-Für ICT und FT mit großer Nutzfläche

Großformat-Testadapter

15.12.2010Mit dem wartungsfreien Kettenantrieb, gehärteten Säulenführungen in Kombination mit der fein gefrästen Grundplatte und dem Niederhalterrahmen aus eloxiertem Aluminiumguss verfügt der PA-400/240-Testadapter von BF-Tech über die gleichen Präzisionseigenschaften wie der kleine PA-130/110. mehr...

Seite 1 von 512345
Loader-Icon