Boundary Scan

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Boundary Scan".
Bild 2: Proben kontaktieren Pins auf einer Baugruppe. Wegen der beweglichen Nadeln sind beim FPT keine teuren Adapter erforderlich. Digitale Tests sind hingegen nur sehr eingeschränkt möglich.
Baugruppenfertigung-Ungelötete BGA-Pins finden

Testen ohne Testpunkte

28.11.2016- FachartikelBei Mixed-Signal-Designs und anderen komplexen Baugruppen stoßen elektrische Tests an ihre Grenzen. Ein einzelnes Verfahren reicht nicht aus, um die Funktionsweise zu testen. Erst im Zusammenspiel können Testverfahren wie Flying Probe und Boundary Scan auch die Fehler finden, die eigentlich unauffindbar sind. mehr...

Strukturelle ATE-Systeme können mit nur wenigen Messverfahren Spannung, Frequenz, Zeit und elektrischen Durchgang an einigen hundert Kanälen erfassen.
Testgeräte + Prüfplätze-Warum strukturelle Baugruppentests wichtig sind

Schritt für Schritt zum passenden Testsystem

28.10.2016- FachartikelSchon zu Beginn der Planung eines Testsystems sind zahlreiche Aspekte zu berücksichtigen – doch dieser Aufwand zahlt sich aus. Denn nur wer die Diagnosetiefe unter Berücksichtigung aller relevanten Faktoren genau definiert, erhält am Ende ein Testsystem, das die Kosten wieder reinholt. mehr...

Testlinie für Infotainmentsysteme: ein gemeinsames Konzept, dennoch für jedes Land individuell umgesetzt.
Baugruppenfertigung-Lokal produzieren, global agieren

Prüftechnik für die Welt

27.07.2016- FachartikelEine umfangreiche Testlinie für Infotainmentsysteme für einen japanischen Hersteller, der die Elektronik an einen bedeutenden deutschen Automobilhersteller liefert – für MCD Elektronik war dies eine Riesenherausforderung mit globalen Ansprüchen, die man sich nicht entgehen lassen wollte. Erfolgreich konnte sich der Mess- und Prüftechnikhersteller gegenüber seinen Mitstreitern behaupten. mehr...

Eschke
Baugruppenfertigung-Mit erweitertem Boundary Scan Test

Incircuit- und Funktionstester

10.04.2016- ProduktberichtMit den Incircuit- und Funktionstestern von Dr. Eschke Elektronik gibt es ein vielfach eingesetztes Tool für den Boundary Scan Test „BST CT300“. mehr...

Rapido
Baugruppenfertigung-Große Auswahl an Testlösungen

Optische und elektrische Prüftechnologien

04.04.2016- ProduktberichtMultidimensionale Inspektion und dynamischer Embedded Board Test: Göpel electronic präsentiert auf der SMT/Hybrid/Packaging 2016 Testlösungen aus den Gebieten Automatische Inspektion (AOI/AXI/SPI) und JTAG/Boundary Scan. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze- Test - Debugging - Feinabstimmung

JTAG/Boundary-Scan: Entwicklungsphasen und Zukunftsausblick

02.02.2016- FachartikelDer Weg der JTAG-Entwicklung verlief nicht immer nur geradlinig. In dem grenzenlosen Labyrinth, das die Elektronikentwicklung umgibt, gab es auch einige Sackgassen. Es war und ist stets ein schwieriger Balanceakt, tragfähige, standardisierte und profitabel nutzbare Testverfahren zu entwickeln. Seine Einschätzungen über die zukünftigen Entwicklungen vermittelt der Autor in diesem Artikel. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Analoges ICT System überarbeitet

PXI-basierter ICT-Tester

01.11.2015- ProduktberichtKonrad Technologies stellt mit Leon III eine verbesserte Version des analogen ICT-Systems vor, das nun im Kern auf einem neu entwickelten, universalen PXI-Instrument basiert. mehr...

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Baugruppenfertigung-Boundary-Scan zur Integration in Testsysteme

Boundary-Scan bei Funktionstestern stark im Kommen

29.10.2015- FachartikelIn Zeiten zunehmend höher integrierter Bauteile und ausgefeilter SMD-Technik kommt Funktionstests von Bauteilen immer mehr Bedeutung zu. Waren vor 15 Jahren In-Circuit-Tester noch unangefochtene Nummer Eins am westeuropäischen ATE-Markt, dominieren heute Kombinationen aus Funktions-, Struktur- und Boundary-Scan-Tests. Jtag Technologies bietet Boundary-Scan-Systeme für die Integration in Testsysteme unterschiedlicher Hersteller und ermöglicht den Aufbau günstiger Mini-ATE-Systeme ebenso wie hochflexibler ATE-Systeme für viele unterschiedliche Tests. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Gut gemixt

Mit der richtigen Testsysteme-Auswahl zum Universaltester

17.07.2014- FachartikelDer Produktionsstandort Deutschland ist vor allem durch eine High-Mix-/Low-Volume-Fertigung gekennzeichnet. Das jeweilige passende Testsystem zu konzipieren kann sehr aufwändig werden. Besser ist es da, flexible und universell einsetzbare Baugruppentester zu verwenden. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Boundary-Scan-Hardware-Schnittstelle

Auf Tuchfühlung mit VPC-Kontaktiersystem

05.05.2014- ProduktberichtDie neuartige JTAG/Boundary-Scan-Hardware-Schnittstelle von JTAG Technologies ist nun mit dem Kontaktiersystem von Virginia Panel (VPC) kompatibel. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Funktionstest mit Boundary-Scan für den Baugruppentest

Starkes Doppel

19.02.2014- FachartikelDie Integrationsdichte moderner Prozessor- und FPGA-basierter elektronischer Baugruppen wird in immer größerem Maße zu einem Problem für herkömmliche Testmethoden: BGA-Gehäuse bieten keinen Zugriff mehr für die Nadelbettadapter von In-Circuit-Testern oder auch optische Prüfungen. Und auch Röntgenprüfungen können kalte Lötstellen nicht zuverlässig erkennen. Seit vielen Jahren ist daher bereits das Testen per JTAG/Boundary-Scan auf dem Vormarsch. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Der multifunktionale Boundary-Scan-Tester ist sämtlichen Anforderungen gewachsen

Designers Liebling

04.02.2014- FachartikelMit der vielseitigen JT 5705-Serie bringt JTAG Technologies weitere Mitglieder seiner Boundary-Scan-Controller-Hardwarefamilie für Leiterplattenbaugruppen- und Systemtest auf den Markt. Das neuartige Designkonzept beinhaltet sowohl JTAG/Boundary-Scan-Controllerfunktionen, als auch gemischt analog/digitale I/O-Kanäle. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-JTAG/Boundary-Scan-Test

Boundary-Scan in der „wirklichen Welt“

01.11.2013- Application NoteAuf sechs Seiten hat Peter van den Eijnden von JTAG Technologies neben den Grundlagen auch die praktischen Erfahrungen eines Anwenders mit der Boundary-Scan-Test-Methode dargestellt. High-end-Tools zur Entwicklung von JTAG/Boundary-Scan-Tests können, je nach erforderlichen Eigenschaften, mehrere Tausend Euro kosten. Elementare Boundary-Scan-Funktionen lassen sich jedoch ohne jegliche Kosten ausprobieren: es genügt, die aktuellste Version von JTAGLive Buzz aus dem Internet herunterzuladen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Prüfadapter ergänzen Testsysteme

Design-for-Testability leicht gemacht

06.03.2013- FachartikelDas Testen elektronischer Bauteile wird immer mehr zu einer Herausforderung. Grund dafür sind die wachsende Integrationsdichte und die steigende Funktionsvielfalt integrierter Schaltungskomponenten. Dies erschwert zunehmend den Testzugriff bei der elektrischen Prüfung. Grundsätzlich ist es daher sinnvoll, mit einem effizienten, das heißt mit einem innovativen und kostengünstigen Testkonzept zu arbeiten. mehr...

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Elektrische Größen-Der fundamentale Paradigmenwechsel beim elektrischen Test

ESA Embedded System Access

19.02.2013- FachartikelDer 1990 mit IEEE 1149.1 begonnene Trend zum Einsatz nichtinvasiver Zugriffsstrategien hat sich durch die Absorption immer neuer Technologien und Methoden mittlerweile zur eigenständigen Klasse des Embedded System Access entwickelt. Dabei bedeutet Embedded System Access im Kern die Verlagerung der Pin-Elektronik eines Testers in das zu testende System. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Update für kostenlose JTAG/Boundary-Scan-Werkzeuge

Unterstützung zahlreicher Sprachen

06.02.2013- ProduktberichtDie Entwickler von JTAG Live Buzz und BuzzPlus kündigen die neue Version ihrer JTAG-Live-Plattform an. Ab sofort steht das neue Release, inklusive des kostenlosen Moduls Buzz, ohne Registrierung zum Download zur Verfügung. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Programmier-Sprinter

Boundary-Scan-Controller im PCI-Express-Format

06.11.2012- ProduktberichtJtag Technologies erweitert seine Produktpalette der Boundary-Scan-Controller nach IEEE 1149.1. Die neue Data-Blaster-Karte JT 37x7/PXIe unterstützt das zunehmend populäre PXIe/Compact-PCI-Express-Steckkartenformat, das in modernen automatischen Testsystemen zum Einsatz kommt. mehr...

Baugruppenfertigung-AOI zur Qualitätssicherung elektronischer Baugruppen

Die höchste Form des Testens

01.10.2012- FachartikelFunktionstester, In-Circuit- und Flying-Probe-Tests, manuelle visuelle Inspektion und als Krönung der 22-jährigen Geschichte des Einsatzes von Testsystemen beim Elektronikfertigungs-Dienstleister SMT&Hybrid sichern automatische optische Inspektionssysteme die Qualität auch bei großen Losgrößen. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze

Boundary Scan – der Kostensparer

10.10.2003- FachartikelIm Jahre 1990 wurde die Boundary Scan Technologie als IEEE 1149.1 zum weltweiten Standard erhoben. Trotz dieser Standardisierung und der breiten industriellen Einführung und Nutzung besteht heute teilweise noch immer ein eher schemenhaftes Wissen bei manchen Testingenieuren und Entwicklern über das Verfahren. Der folgende Beitrag soll hier ein wenig Abhilfe schaffen. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze

Kostenreduzierung durch Boundary Scan

28.10.2002- FachartikelSeit seiner Standardisierung im Jahre 1990 haben sich immer mehr Hersteller von Bauelementen entschlossen den IEEE1149.1-Standard zu unterstützen. Obwohl seit 1990 als Boundary Scan bekannt, ist erst jetzt ein lawinenartiger Durchbruch dieser Technologie am Markt zu beobachten. mehr...

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